I-V Characteristics of PtxCo1−x (x = 0.2, 0.5, and 0.7) Thin Films
المؤلفون المشاركون
Erkovan, M.
Şentürk, E.
Şahin, Y.
Okutan, M.
المصدر
العدد
المجلد 2013، العدد 2013 (31 ديسمبر/كانون الأول 2013)، ص ص. 1-6، 6ص.
الناشر
Hindawi Publishing Corporation
تاريخ النشر
2013-08-05
دولة النشر
مصر
عدد الصفحات
6
التخصصات الرئيسية
الملخص EN
Three different chemical ratios of PtxCo1−x thin films were grown on p-type native oxide Si (100) by Magneto Sputtering System with cosputtering technique at 350°C temperature to investigate electrical prosperities.
X-ray photoelectron spectroscopy analysis technique was used to specify chemical ratios of these films.
The current-voltage (I-V) measurements of metal-semiconductor (MS) Schottky diodes were carried out at room temperature.
From the I-V analysis of the samples, ideality factor (n), barrier height (ϕ), and contact resistance values were determined by using thermionic emission (TE) theory.
Some important parameters such as barrier height, ideality factor, and serial resistance were calculated from the I-V characteristics based on thermionic emission mechanism.
The ideality factors of the samples were not much greater than unity, and the serial resistances of the samples were also very low.
نمط استشهاد جمعية علماء النفس الأمريكية (APA)
Erkovan, M.& Şentürk, E.& Şahin, Y.& Okutan, M.. 2013. I-V Characteristics of PtxCo1−x (x = 0.2, 0.5, and 0.7) Thin Films. Journal of Nanomaterials،Vol. 2013, no. 2013, pp.1-6.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-1007959
نمط استشهاد الجمعية الأمريكية للغات الحديثة (MLA)
Erkovan, M.…[et al.]. I-V Characteristics of PtxCo1−x (x = 0.2, 0.5, and 0.7) Thin Films. Journal of Nanomaterials No. 2013 (2013), pp.1-6.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-1007959
نمط استشهاد الجمعية الطبية الأمريكية (AMA)
Erkovan, M.& Şentürk, E.& Şahin, Y.& Okutan, M.. I-V Characteristics of PtxCo1−x (x = 0.2, 0.5, and 0.7) Thin Films. Journal of Nanomaterials. 2013. Vol. 2013, no. 2013, pp.1-6.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-1007959
نوع البيانات
مقالات
لغة النص
الإنجليزية
الملاحظات
Includes bibliographical references
رقم السجل
BIM-1007959
قاعدة معامل التأثير والاستشهادات المرجعية العربي "ارسيف Arcif"
أضخم قاعدة بيانات عربية للاستشهادات المرجعية للمجلات العلمية المحكمة الصادرة في العالم العربي
تقوم هذه الخدمة بالتحقق من التشابه أو الانتحال في الأبحاث والمقالات العلمية والأطروحات الجامعية والكتب والأبحاث باللغة العربية، وتحديد درجة التشابه أو أصالة الأعمال البحثية وحماية ملكيتها الفكرية. تعرف اكثر