Ring Counter Based ATPG for Low Transition Test Pattern Generation
المؤلفون المشاركون
Begam, V. M. Thoulath
Baulkani, S.
المصدر
العدد
المجلد 2015، العدد 2015 (31 ديسمبر/كانون الأول 2015)، ص ص. 1-6، 6ص.
الناشر
Hindawi Publishing Corporation
تاريخ النشر
2015-05-14
دولة النشر
مصر
عدد الصفحات
6
التخصصات الرئيسية
الطب البشري
تكنولوجيا المعلومات وعلم الحاسوب
الملخص EN
In test mode test patterns are applied in random fashion to the circuit under circuit.
This increases switching transition between the consecutive test patterns and thereby increases dynamic power dissipation.
The proposed ring counter based ATPG reduces vertical switching transitions by inserting test vectors only between the less correlative test patterns.
This paper presents the RC-ATPG with an external circuit.
The external circuit consists of XOR gates, full adders, and multiplexers.
First the total number of transitions between the consecutive test patterns is determined.
If it is more, then the external circuit generates and inserts test vectors in between the two test patterns.
Test vector insertion increases the correlation between the test patterns and reduces dynamic power dissipation.
The results prove that the test patterns generated by the proposed ATPG have fewer transitions than the conventional ATPG.
Experimental results based on ISCAS’85 and ISCAS’89 benchmark circuits show 38.5% reduction in the average power and 50% reduction in the peak power attained during testing with a small size decoding logic.
نمط استشهاد جمعية علماء النفس الأمريكية (APA)
Begam, V. M. Thoulath& Baulkani, S.. 2015. Ring Counter Based ATPG for Low Transition Test Pattern Generation. The Scientific World Journal،Vol. 2015, no. 2015, pp.1-6.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-1079064
نمط استشهاد الجمعية الأمريكية للغات الحديثة (MLA)
Begam, V. M. Thoulath& Baulkani, S.. Ring Counter Based ATPG for Low Transition Test Pattern Generation. The Scientific World Journal No. 2015 (2015), pp.1-6.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-1079064
نمط استشهاد الجمعية الطبية الأمريكية (AMA)
Begam, V. M. Thoulath& Baulkani, S.. Ring Counter Based ATPG for Low Transition Test Pattern Generation. The Scientific World Journal. 2015. Vol. 2015, no. 2015, pp.1-6.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-1079064
نوع البيانات
مقالات
لغة النص
الإنجليزية
الملاحظات
Includes bibliographical references
رقم السجل
BIM-1079064
قاعدة معامل التأثير والاستشهادات المرجعية العربي "ارسيف Arcif"
أضخم قاعدة بيانات عربية للاستشهادات المرجعية للمجلات العلمية المحكمة الصادرة في العالم العربي
تقوم هذه الخدمة بالتحقق من التشابه أو الانتحال في الأبحاث والمقالات العلمية والأطروحات الجامعية والكتب والأبحاث باللغة العربية، وتحديد درجة التشابه أو أصالة الأعمال البحثية وحماية ملكيتها الفكرية. تعرف اكثر