Optical, XPS and XRD Studies of Semiconducting Copper Sulfide Layers on a Polyamide Film
المؤلفون المشاركون
Andrulevičius, Mindaugas
Krylova, Valentina
المصدر
International Journal of Photoenergy
العدد
المجلد 2009، العدد 2009 (31 ديسمبر/كانون الأول 2009)، ص ص. 1-8، 8ص.
الناشر
Hindawi Publishing Corporation
تاريخ النشر
2009-11-22
دولة النشر
مصر
عدد الصفحات
8
التخصصات الرئيسية
الملخص EN
Copper sulfide layers were formed on polyamide PA 6 surface using the sorption-diffusion method.
Polymer samples were immersed for 4 and 5 h in 0.15 mol⋅dm−3 K2S5O6 solutions and acidified with HCl (0.1 mol⋅dm−3) at 20∘C.
After washing and drying, the samples were treated with Cu(I) salt solution.
The samples were studied by UV/VIS, X-ray diffraction (XRD) and X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) methods.
All methods confirmed that on the surface of the polyamide film a layer of copper sulfide was formed.
The copper sulfide layers are indirect band-gap semiconductors.
The values of Ebg are 1.25 and 1.3 eV for 4 h and 5 h sulfured PA 6 respectively.
Copper XPS spectra analyses showed Cu(I) bonds only in deeper layers of the formed film, while in sulfur XPS S 2p spectra dominating sulfide bonds were found after cleaning the surface with Ar+ ions.
It has been established by the XRD method that, beside Cu2S, the layer contains Cu1.9375S as well.
For PA 6 initially sulfured 4 h, grain size for chalcocite, Cu2S, was ∼35.60 nm and for djurleite, Cu1.9375S, it was 54.17 nm.
The sheet resistance of the obtained layer varies from 6300 to 102 Ω/cm2.
نمط استشهاد جمعية علماء النفس الأمريكية (APA)
Krylova, Valentina& Andrulevičius, Mindaugas. 2009. Optical, XPS and XRD Studies of Semiconducting Copper Sulfide Layers on a Polyamide Film. International Journal of Photoenergy،Vol. 2009, no. 2009, pp.1-8.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-461854
نمط استشهاد الجمعية الأمريكية للغات الحديثة (MLA)
Krylova, Valentina& Andrulevičius, Mindaugas. Optical, XPS and XRD Studies of Semiconducting Copper Sulfide Layers on a Polyamide Film. International Journal of Photoenergy No. 2009 (2009), pp.1-8.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-461854
نمط استشهاد الجمعية الطبية الأمريكية (AMA)
Krylova, Valentina& Andrulevičius, Mindaugas. Optical, XPS and XRD Studies of Semiconducting Copper Sulfide Layers on a Polyamide Film. International Journal of Photoenergy. 2009. Vol. 2009, no. 2009, pp.1-8.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-461854
نوع البيانات
مقالات
لغة النص
الإنجليزية
الملاحظات
Includes bibliographical references
رقم السجل
BIM-461854
قاعدة معامل التأثير والاستشهادات المرجعية العربي "ارسيف Arcif"
أضخم قاعدة بيانات عربية للاستشهادات المرجعية للمجلات العلمية المحكمة الصادرة في العالم العربي
تقوم هذه الخدمة بالتحقق من التشابه أو الانتحال في الأبحاث والمقالات العلمية والأطروحات الجامعية والكتب والأبحاث باللغة العربية، وتحديد درجة التشابه أو أصالة الأعمال البحثية وحماية ملكيتها الفكرية. تعرف اكثر