Low Temperature Dielectric Relaxation in Ba1−xBixTi1−xFexO3 System
المؤلفون المشاركون
Kumar, Arvind
Parkash, Om
Baboo, S.
Dwivedi, R. K.
المصدر
العدد
المجلد 2013، العدد 2013 (31 ديسمبر/كانون الأول 2013)، ص ص. 1-8، 8ص.
الناشر
Hindawi Publishing Corporation
تاريخ النشر
2013-02-12
دولة النشر
مصر
عدد الصفحات
8
التخصصات الرئيسية
علم المواد والمعادن
هندسة مدنية
الملخص EN
We report on dielectric properties of polycrystalline Ba1−xBixTi1−xFexO3 (BBTF) ceramic system (x=0.02, 0.06, 0.08, 0.10, 0.12, and 0.16).
The materials were synthesized by solid state ceramic route.
Solid solution formation has been confirmed by powder X-ray diffraction for compositions with x≤0.16.
Crystal structure is tetragonal for x≤0.08 and cubic for x≥0.10.
Microstructures show that the average grain size is less than one micrometer (1 μ).
Dielectric behavior has been studied as a function of temperature (100 K–400 K) and frequency.
Composition with x=0.02 exhibits diffuse phase transition.
Compositions with x≥0.10 show ferroelectric relaxor behavior.
This shows that diffuse ferroelectric transition behavior changes to relaxor type ferroelectric transition with increasing x.
Plots of dielectric loss (D) versus temperature shows broad maxima which shift to high temperature with increasing frequency, dispersion in dielectric loss decreases with x below peak maxima and increases above.
It may be attributed to Maxwell Wagner type relaxation process for low x (~0.02) and relaxation of nanopolar regions for x=0.16.
نمط استشهاد جمعية علماء النفس الأمريكية (APA)
Kumar, Arvind& Dwivedi, R. K.& Baboo, S.& Parkash, Om. 2013. Low Temperature Dielectric Relaxation in Ba1−xBixTi1−xFexO3 System. Journal of Materials،Vol. 2013, no. 2013, pp.1-8.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-503799
نمط استشهاد الجمعية الأمريكية للغات الحديثة (MLA)
Kumar, Arvind…[et al.]. Low Temperature Dielectric Relaxation in Ba1−xBixTi1−xFexO3 System. Journal of Materials No. 2013 (2013), pp.1-8.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-503799
نمط استشهاد الجمعية الطبية الأمريكية (AMA)
Kumar, Arvind& Dwivedi, R. K.& Baboo, S.& Parkash, Om. Low Temperature Dielectric Relaxation in Ba1−xBixTi1−xFexO3 System. Journal of Materials. 2013. Vol. 2013, no. 2013, pp.1-8.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-503799
نوع البيانات
مقالات
لغة النص
الإنجليزية
الملاحظات
Includes bibliographical references
رقم السجل
BIM-503799
قاعدة معامل التأثير والاستشهادات المرجعية العربي "ارسيف Arcif"
أضخم قاعدة بيانات عربية للاستشهادات المرجعية للمجلات العلمية المحكمة الصادرة في العالم العربي
تقوم هذه الخدمة بالتحقق من التشابه أو الانتحال في الأبحاث والمقالات العلمية والأطروحات الجامعية والكتب والأبحاث باللغة العربية، وتحديد درجة التشابه أو أصالة الأعمال البحثية وحماية ملكيتها الفكرية. تعرف اكثر