![](/images/graphics-bg.png)
التقدم في الإلكترونيات الميكروية من ترانزستورات المقاسات الميكروية إلى ترانزستورات المقاسات النانوية
العنوان الأصلي
Advances in microelectronics-from microscale to nanoscale devices.
المؤلف
لغة النص الأصلي
الإنجليزية
المصدر
مدخل إلى علم النانويات و تقانيتها
الناشر
تاريخ النشر
2012-12-31
دولة النشر
لبنان
عدد الصفحات
64
التخصصات الرئيسية
الموضوعات
لغة النص
العربية
نمط استشهاد جمعية علماء النفس الأمريكية (APA)
شبيغل، جان فان. 2012-12-31. التقدم في الإلكترونيات الميكروية من ترانزستورات المقاسات الميكروية إلى ترانزستورات المقاسات النانوية. مدخل إلى علم النانويات و تقانيتها. ، ص ص. 345-408.بيروت، لبنان : المنظمة العربية للترجمة،.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-764282
نمط استشهاد الجمعية الأمريكية للغات الحديثة (MLA)
شبيغل، جان فان. التقدم في الإلكترونيات الميكروية من ترانزستورات المقاسات الميكروية إلى ترانزستورات المقاسات النانوية. مدخل إلى علم النانويات و تقانيتها. بيروت، لبنان : المنظمة العربية للترجمة،. 2012-12-31. ، ص ص. 345-408.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-764282
نمط استشهاد الجمعية الطبية الأمريكية (AMA)
شبيغل، جان فان. التقدم في الإلكترونيات الميكروية من ترانزستورات المقاسات الميكروية إلى ترانزستورات المقاسات النانوية. مدخل إلى علم النانويات و تقانيتها. بيروت، لبنان : المنظمة العربية للترجمة،. 2012-12-31. ، ص ص. 345-408.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-764282
نوع البيانات
فصل كتاب
الملاحظات
يتضمن هوامش.
رقم السجل
BIM-764282
قاعدة معامل التأثير والاستشهادات المرجعية العربي "ارسيف Arcif"
أضخم قاعدة بيانات عربية للاستشهادات المرجعية للمجلات العلمية المحكمة الصادرة في العالم العربي
![](/images/ebook-kashef.png)
تقوم هذه الخدمة بالتحقق من التشابه أو الانتحال في الأبحاث والمقالات العلمية والأطروحات الجامعية والكتب والأبحاث باللغة العربية، وتحديد درجة التشابه أو أصالة الأعمال البحثية وحماية ملكيتها الفكرية. تعرف اكثر
![](/images/kashef-image.png)