التقدم في الإلكترونيات الميكروية من ترانزستورات المقاسات الميكروية إلى ترانزستورات المقاسات النانوية
العنوان الأصلي
Advances in microelectronics-from microscale to nanoscale devices.
المؤلف
لغة النص الأصلي
الإنجليزية
المصدر
مدخل إلى علم النانويات و تقانيتها
الناشر
تاريخ النشر
2012-12-31
دولة النشر
لبنان
عدد الصفحات
64
التخصصات الرئيسية
الموضوعات
لغة النص
العربية
نمط استشهاد جمعية علماء النفس الأمريكية (APA)
شبيغل، جان فان. 2012-12-31. التقدم في الإلكترونيات الميكروية من ترانزستورات المقاسات الميكروية إلى ترانزستورات المقاسات النانوية. مدخل إلى علم النانويات و تقانيتها. ، ص ص. 345-408.بيروت، لبنان : المنظمة العربية للترجمة،.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-764282
نمط استشهاد الجمعية الأمريكية للغات الحديثة (MLA)
شبيغل، جان فان. التقدم في الإلكترونيات الميكروية من ترانزستورات المقاسات الميكروية إلى ترانزستورات المقاسات النانوية. مدخل إلى علم النانويات و تقانيتها. بيروت، لبنان : المنظمة العربية للترجمة،. 2012-12-31. ، ص ص. 345-408.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-764282
نمط استشهاد الجمعية الطبية الأمريكية (AMA)
شبيغل، جان فان. التقدم في الإلكترونيات الميكروية من ترانزستورات المقاسات الميكروية إلى ترانزستورات المقاسات النانوية. مدخل إلى علم النانويات و تقانيتها. بيروت، لبنان : المنظمة العربية للترجمة،. 2012-12-31. ، ص ص. 345-408.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-764282
نوع البيانات
فصل كتاب
الملاحظات
يتضمن هوامش.
رقم السجل
BIM-764282
قاعدة معامل التأثير والاستشهادات المرجعية العربي "ارسيف Arcif"
أضخم قاعدة بيانات عربية للاستشهادات المرجعية للمجلات العلمية المحكمة الصادرة في العالم العربي
منصة "معرفة" للكتاب العربي الجامعي الرقمي 
تقوم هذه الخدمة بالتحقق من التشابه أو الانتحال في الأبحاث والمقالات العلمية والأطروحات الجامعية والكتب والأبحاث باللغة العربية، وتحديد درجة التشابه أو أصالة الأعمال البحثية وحماية ملكيتها الفكرية. تعرف اكثر
