Study the structural microstructural and electrical properties of CdTe : Sb thin films deposited by flash evaporation
العناوين الأخرى
دراسة الخصائص التركيبية المجهرية و الكهربائية لأغشية CdTe : Sb الرقيقة و المرسبة بالتبخير الوميضي
المؤلف
المصدر
Journal of the College of Basic Education
العدد
المجلد 21، العدد 88 العلوم الصرف (30 إبريل/نيسان 2015)، ص ص. 117-124، 8ص.
الناشر
الجامعة المستنصرية كلية التربية الأساسية
تاريخ النشر
2015-04-30
دولة النشر
العراق
عدد الصفحات
8
التخصصات الرئيسية
نمط استشهاد جمعية علماء النفس الأمريكية (APA)
Ibrahim, Suha Hasan. 2015. Study the structural microstructural and electrical properties of CdTe : Sb thin films deposited by flash evaporation. Journal of the College of Basic Education،Vol. 21, no. 88 العلوم الصرف, pp.117-124.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-804799
نمط استشهاد الجمعية الأمريكية للغات الحديثة (MLA)
Ibrahim, Suha Hasan. Study the structural microstructural and electrical properties of CdTe : Sb thin films deposited by flash evaporation. Journal of the College of Basic Education Vol. 21, no. 88 Pure Sciences (2015), pp.117-124.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-804799
نمط استشهاد الجمعية الطبية الأمريكية (AMA)
Ibrahim, Suha Hasan. Study the structural microstructural and electrical properties of CdTe : Sb thin films deposited by flash evaporation. Journal of the College of Basic Education. 2015. Vol. 21, no. 88 العلوم الصرف, pp.117-124.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-804799
نوع البيانات
مقالات
لغة النص
الإنجليزية
رقم السجل
BIM-804799
قاعدة معامل التأثير والاستشهادات المرجعية العربي "ارسيف Arcif"
أضخم قاعدة بيانات عربية للاستشهادات المرجعية للمجلات العلمية المحكمة الصادرة في العالم العربي
تقوم هذه الخدمة بالتحقق من التشابه أو الانتحال في الأبحاث والمقالات العلمية والأطروحات الجامعية والكتب والأبحاث باللغة العربية، وتحديد درجة التشابه أو أصالة الأعمال البحثية وحماية ملكيتها الفكرية. تعرف اكثر
