العيوب في الأفلام الرقيقة من النوع ZnO المنماة بطريقة الترسيب الذري الطبقي

العناوين الأخرى

Defects in ZnO thin films grown by atomic layer deposition

المؤلف

متوج، نبيل

المصدر

مجلة جامعة تشرين للبحوث و الدراسات العلمية : سلسلة العلوم الهندسية

العدد

المجلد 37، العدد 3 (30 يونيو/حزيران 2015)، ص ص. 57-67، 11ص.

الناشر

جامعة تشرين

تاريخ النشر

2015-06-30

دولة النشر

سوريا

عدد الصفحات

11

التخصصات الرئيسية

العلوم الهندسية والتكنولوجية (متداخلة التخصصات)

نمط استشهاد جمعية علماء النفس الأمريكية (APA)

متوج، نبيل. 2015. العيوب في الأفلام الرقيقة من النوع ZnO المنماة بطريقة الترسيب الذري الطبقي. مجلة جامعة تشرين للبحوث و الدراسات العلمية : سلسلة العلوم الهندسية،مج. 37، ع. 3، ص ص. 57-67.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-824998

نمط استشهاد الجمعية الأمريكية للغات الحديثة (MLA)

متوج، نبيل. العيوب في الأفلام الرقيقة من النوع ZnO المنماة بطريقة الترسيب الذري الطبقي. مجلة جامعة تشرين للبحوث و الدراسات العلمية : سلسلة العلوم الهندسية مج. 37، ع. 3 (2015)، ص ص. 57-67.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-824998

نمط استشهاد الجمعية الطبية الأمريكية (AMA)

متوج، نبيل. العيوب في الأفلام الرقيقة من النوع ZnO المنماة بطريقة الترسيب الذري الطبقي. مجلة جامعة تشرين للبحوث و الدراسات العلمية : سلسلة العلوم الهندسية. 2015. مج. 37، ع. 3، ص ص. 57-67.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-824998

نوع البيانات

مقالات

لغة النص

العربية

الملاحظات

رقم السجل

BIM-824998