دراسة طوبوغرافية السطح و الخصائص الكهربائية لأغشية المركب GaAs : In c-Si

العناوين الأخرى

Study the surface topography and electrical properties of GaAs : In c-Si composite thin films

المؤلفون المشاركون

حسين خزعل رشيد
نجم، جبير عبد الله
رفاء عبد الكريم عبد الواحد

المصدر

مجلة جامعة الأنبار للعلوم الصرفة

العدد

المجلد 12، العدد 1 (30 إبريل/نيسان 2018)، ص ص. 88-97، 10ص.

الناشر

جامعة الأنبار كلية العلوم

تاريخ النشر

2018-04-30

دولة النشر

العراق

عدد الصفحات

10

التخصصات الرئيسية

الفيزياء

نمط استشهاد جمعية علماء النفس الأمريكية (APA)

نجم، جبير عبد الله ورفاء عبد الكريم عبد الواحد وحسين خزعل رشيد. 2018. دراسة طوبوغرافية السطح و الخصائص الكهربائية لأغشية المركب GaAs : In c-Si. مجلة جامعة الأنبار للعلوم الصرفة،مج. 12، ع. 1، ص ص. 88-97.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-916643

نمط استشهاد الجمعية الأمريكية للغات الحديثة (MLA)

نجم، جبير عبد الله....[و آخرون]. دراسة طوبوغرافية السطح و الخصائص الكهربائية لأغشية المركب GaAs : In c-Si. مجلة جامعة الأنبار للعلوم الصرفة مج. 12، ع. 1 (2018)، ص ص. 88-97.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-916643

نمط استشهاد الجمعية الطبية الأمريكية (AMA)

نجم، جبير عبد الله ورفاء عبد الكريم عبد الواحد وحسين خزعل رشيد. دراسة طوبوغرافية السطح و الخصائص الكهربائية لأغشية المركب GaAs : In c-Si. مجلة جامعة الأنبار للعلوم الصرفة. 2018. مج. 12، ع. 1، ص ص. 88-97.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-916643

نوع البيانات

مقالات

لغة النص

العربية

رقم السجل

BIM-916643