Méthode rapide de détermination de l’ombre propre d’une plaque opaque

Abstract FRE

En dessin d’architecture, il existe deux méthodes de détermination de l’ombre propre d’une plaque opaque : celle dite des plans lumineux sécants, et celle dite des contours apparents des ombres portées de la plaque.

Tout en conservant le principe opératoire de la seconde, une nouvelle méthode simple et rapide est proposée.

En effet, au lieu de tracer l’ombre portée de la plaque sur le plan horizontal de projection (dans un premier temps), ensuite sur le plan frontal (dans un second temps), en vue de déduire les sens de leurs contours apparents afin de les comparer avec les sens des contours apparents des projections horizontale et frontale de la plaque, pour pouvoir en fin de compte statuer si la plaque est obscure ou éclairée (ce que préconise la seconde method) ; en revanche, la nouvelle méthode suggère l’emploi du deuxième plan bissecteur comme support de l’ombre portée de la plaque en vue de comparer son sens en une seule fois et directement avec les sens des contours des projections horizontale et frontale de la plaque.

Les démonstrations, théoriques et graphiques, montrent que par la nouvelle méthode on obtient les mêmes résultats que ceux des deux premières.

Cependant, la nouvelle méthode offre de nets avantages quant à la simplicité de déduction des résultats et à la rapidité de l’exécution des épures.