![](/images/graphics-bg.png)
Scheduling Semiconductor Multihead Testers Using Metaheuristic Techniques Embedded with Lot-Specific and Configuration-Specific Information
المؤلفون المشاركون
Hung, Yi-Feng
Wang, Chi-Chung
Wu, Gen-Han
المصدر
Mathematical Problems in Engineering
العدد
المجلد 2013، العدد 2013 (31 ديسمبر/كانون الأول 2013)، ص ص. 1-14، 14ص.
الناشر
Hindawi Publishing Corporation
تاريخ النشر
2013-12-24
دولة النشر
مصر
عدد الصفحات
14
التخصصات الرئيسية
الملخص EN
In the semiconductor back-end manufacturing, the device test central processing unit (CPU) is most costly and is typically the bottleneck machine at the test plant.
A multihead tester contains a CPU and several test heads, each of which can be connected to a handler that processes one lot of the same device.
The residence time of a lot is closely related to the product mix on test heads, which increases the complexity of this problem.
It is critical for the test scheduling problem to reduce CPU's idle time and to increase tester utilization.
In this paper, a multihead tester scheduling problem is formulated as an identical parallel machine scheduling problem with the objective of minimizing makespan.
A heuristic grouping method is developed to obtain a good initial solution in a short time.
Three metaheuristic techniques, using lot-specific and configuration-specific information, are proposed to receive a near-optimum and are compared to traditional approaches.
Computational experiments show that a tabu search with lot-specific information outperforms all other competing approaches.
نمط استشهاد جمعية علماء النفس الأمريكية (APA)
Hung, Yi-Feng& Wang, Chi-Chung& Wu, Gen-Han. 2013. Scheduling Semiconductor Multihead Testers Using Metaheuristic Techniques Embedded with Lot-Specific and Configuration-Specific Information. Mathematical Problems in Engineering،Vol. 2013, no. 2013, pp.1-14.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-1009394
نمط استشهاد الجمعية الأمريكية للغات الحديثة (MLA)
Hung, Yi-Feng…[et al.]. Scheduling Semiconductor Multihead Testers Using Metaheuristic Techniques Embedded with Lot-Specific and Configuration-Specific Information. Mathematical Problems in Engineering No. 2013 (2013), pp.1-14.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-1009394
نمط استشهاد الجمعية الطبية الأمريكية (AMA)
Hung, Yi-Feng& Wang, Chi-Chung& Wu, Gen-Han. Scheduling Semiconductor Multihead Testers Using Metaheuristic Techniques Embedded with Lot-Specific and Configuration-Specific Information. Mathematical Problems in Engineering. 2013. Vol. 2013, no. 2013, pp.1-14.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-1009394
نوع البيانات
مقالات
لغة النص
الإنجليزية
الملاحظات
Includes bibliographical references
رقم السجل
BIM-1009394
قاعدة معامل التأثير والاستشهادات المرجعية العربي "ارسيف Arcif"
أضخم قاعدة بيانات عربية للاستشهادات المرجعية للمجلات العلمية المحكمة الصادرة في العالم العربي
![](/images/ebook-kashef.png)
تقوم هذه الخدمة بالتحقق من التشابه أو الانتحال في الأبحاث والمقالات العلمية والأطروحات الجامعية والكتب والأبحاث باللغة العربية، وتحديد درجة التشابه أو أصالة الأعمال البحثية وحماية ملكيتها الفكرية. تعرف اكثر
![](/images/kashef-image.png)