Limit CircleLimit Point Criteria for Second-Order Superlinear Differential Equations with a Damping Term
المؤلفون المشاركون
Xing, Lihong
Zhang, Zhengqiang
Xu, Qiyi
Song, Wei
المصدر
Journal of Applied Mathematics
العدد
المجلد 2012، العدد 2012 (31 ديسمبر/كانون الأول 2012)، ص ص. 1-11، 11ص.
الناشر
Hindawi Publishing Corporation
تاريخ النشر
2012-04-17
دولة النشر
مصر
عدد الصفحات
11
التخصصات الرئيسية
الملخص EN
The purpose of the present paper is to establish some new criteria for the classifications of superlinear differential equations as being of the nonlinear limit circle type or of the nonlinear limit point type.
The criteria presented here generalize some known results in literature.
نمط استشهاد جمعية علماء النفس الأمريكية (APA)
Xing, Lihong& Song, Wei& Zhang, Zhengqiang& Xu, Qiyi. 2012. Limit CircleLimit Point Criteria for Second-Order Superlinear Differential Equations with a Damping Term. Journal of Applied Mathematics،Vol. 2012, no. 2012, pp.1-11.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-1028832
نمط استشهاد الجمعية الأمريكية للغات الحديثة (MLA)
Xing, Lihong…[et al.]. Limit CircleLimit Point Criteria for Second-Order Superlinear Differential Equations with a Damping Term. Journal of Applied Mathematics No. 2012 (2012), pp.1-11.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-1028832
نمط استشهاد الجمعية الطبية الأمريكية (AMA)
Xing, Lihong& Song, Wei& Zhang, Zhengqiang& Xu, Qiyi. Limit CircleLimit Point Criteria for Second-Order Superlinear Differential Equations with a Damping Term. Journal of Applied Mathematics. 2012. Vol. 2012, no. 2012, pp.1-11.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-1028832
نوع البيانات
مقالات
لغة النص
الإنجليزية
الملاحظات
Includes bibliographical references
رقم السجل
BIM-1028832
قاعدة معامل التأثير والاستشهادات المرجعية العربي "ارسيف Arcif"
أضخم قاعدة بيانات عربية للاستشهادات المرجعية للمجلات العلمية المحكمة الصادرة في العالم العربي
تقوم هذه الخدمة بالتحقق من التشابه أو الانتحال في الأبحاث والمقالات العلمية والأطروحات الجامعية والكتب والأبحاث باللغة العربية، وتحديد درجة التشابه أو أصالة الأعمال البحثية وحماية ملكيتها الفكرية. تعرف اكثر