Single-Event-Upset Sensitivity Analysis on Low-Swing Drivers
المؤلفون المشاركون
Mahyuddin, Nor Muzlifah
Russell, Gordon
المصدر
العدد
المجلد 2014، العدد 2014 (31 ديسمبر/كانون الأول 2014)، ص ص. 1-7، 7ص.
الناشر
Hindawi Publishing Corporation
تاريخ النشر
2014-03-19
دولة النشر
مصر
عدد الصفحات
7
التخصصات الرئيسية
الطب البشري
تكنولوجيا المعلومات وعلم الحاسوب
الملخص EN
Technology scaling relies on reduced nodal capacitances and lower voltages in order to improve performance and power consumption, resulting in significant increase in layout density, thus making these submicron technologies more susceptible to soft errors.
Previous analysis indicates a significant improvement in SEU tolerance of the driver when the bias current is injected into the circuit but results in increase of power dissipation.
Subsequently, other alternatives are considered.
The impact of transistor sizes and temperature on SEU tolerance is tested.
Results indicate no significant changes in Q c r i t when the effective transistor length is increased by 10%, but there is an improvement when high temperature and high bias currents are applied.
However, this is due to other process parameters that are temperature dependent, which contribute to the sharp increase in Q c r i t .
It is found that, with temperature, there is no clear factor that can justify the direct impact of temperature on the SEU tolerance.
Thus, in order to improve the SEU tolerance, high bias currents are still considered to be the most effective method in improving the SEU sensitivity.
However, good trade-off is required for the low-swing driver in order to meet the reliability target with minimal power overhead.
نمط استشهاد جمعية علماء النفس الأمريكية (APA)
Mahyuddin, Nor Muzlifah& Russell, Gordon. 2014. Single-Event-Upset Sensitivity Analysis on Low-Swing Drivers. The Scientific World Journal،Vol. 2014, no. 2014, pp.1-7.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-1051450
نمط استشهاد الجمعية الأمريكية للغات الحديثة (MLA)
Mahyuddin, Nor Muzlifah& Russell, Gordon. Single-Event-Upset Sensitivity Analysis on Low-Swing Drivers. The Scientific World Journal No. 2014 (2014), pp.1-7.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-1051450
نمط استشهاد الجمعية الطبية الأمريكية (AMA)
Mahyuddin, Nor Muzlifah& Russell, Gordon. Single-Event-Upset Sensitivity Analysis on Low-Swing Drivers. The Scientific World Journal. 2014. Vol. 2014, no. 2014, pp.1-7.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-1051450
نوع البيانات
مقالات
لغة النص
الإنجليزية
الملاحظات
Includes bibliographical references
رقم السجل
BIM-1051450
قاعدة معامل التأثير والاستشهادات المرجعية العربي "ارسيف Arcif"
أضخم قاعدة بيانات عربية للاستشهادات المرجعية للمجلات العلمية المحكمة الصادرة في العالم العربي
تقوم هذه الخدمة بالتحقق من التشابه أو الانتحال في الأبحاث والمقالات العلمية والأطروحات الجامعية والكتب والأبحاث باللغة العربية، وتحديد درجة التشابه أو أصالة الأعمال البحثية وحماية ملكيتها الفكرية. تعرف اكثر