A Split Island Layout Style of ButtingInserted Substrate Pickups for NMOSFET ESD Reliability
المؤلفون المشاركون
Huang, Chih-Yao
Chiu, Fu-Chien
Lin, Bo-Chen
Song, Po-Kung
المصدر
Advances in Materials Science and Engineering
العدد
المجلد 2015، العدد 2015 (31 ديسمبر/كانون الأول 2015)، ص ص. 1-9، 9ص.
الناشر
Hindawi Publishing Corporation
تاريخ النشر
2015-09-06
دولة النشر
مصر
عدد الصفحات
9
الملخص EN
Butting/inserted pickup layout style could result in severe ESD degradation of NMOS devices beyond deep submicron technology.
A split island layout style of butting/inserted substrate pickups is designed for a multifinger NMOS structure to enhance its ESD reliability.
This layout style divides the substrate pickup diffusion bands along the whole polygate finger direction into segmented diffusion islands in the source area.
This layout technique could improve the TLP second breakdown current of the 1.8 V butting pickup structure by 58~66% and 1.8 V/3.3 V inserted pickup case by 2.8 times.
This style also shows excellent enhancement for the ESD/HBM levels of the 1.8 V and 3.3 V butting pickup case by 2.1~2.3 times and 18%~6 times, respectively, and the 1.8 V and 3.3 V inserted pickup case by 2.4~2.9 times and 13%~6 times, respectively.
This simple technique could restore the ESD threshold level of the butting/inserted pickup layout style back to that of the normal GGNMOS without any further area consumption or fabrication cost.
نمط استشهاد جمعية علماء النفس الأمريكية (APA)
Huang, Chih-Yao& Chiu, Fu-Chien& Lin, Bo-Chen& Song, Po-Kung. 2015. A Split Island Layout Style of ButtingInserted Substrate Pickups for NMOSFET ESD Reliability. Advances in Materials Science and Engineering،Vol. 2015, no. 2015, pp.1-9.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-1053617
نمط استشهاد الجمعية الأمريكية للغات الحديثة (MLA)
Huang, Chih-Yao…[et al.]. A Split Island Layout Style of ButtingInserted Substrate Pickups for NMOSFET ESD Reliability. Advances in Materials Science and Engineering No. 2015 (2015), pp.1-9.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-1053617
نمط استشهاد الجمعية الطبية الأمريكية (AMA)
Huang, Chih-Yao& Chiu, Fu-Chien& Lin, Bo-Chen& Song, Po-Kung. A Split Island Layout Style of ButtingInserted Substrate Pickups for NMOSFET ESD Reliability. Advances in Materials Science and Engineering. 2015. Vol. 2015, no. 2015, pp.1-9.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-1053617
نوع البيانات
مقالات
لغة النص
الإنجليزية
الملاحظات
Includes bibliographical references
رقم السجل
BIM-1053617
قاعدة معامل التأثير والاستشهادات المرجعية العربي "ارسيف Arcif"
أضخم قاعدة بيانات عربية للاستشهادات المرجعية للمجلات العلمية المحكمة الصادرة في العالم العربي
تقوم هذه الخدمة بالتحقق من التشابه أو الانتحال في الأبحاث والمقالات العلمية والأطروحات الجامعية والكتب والأبحاث باللغة العربية، وتحديد درجة التشابه أو أصالة الأعمال البحثية وحماية ملكيتها الفكرية. تعرف اكثر