![](/images/graphics-bg.png)
Impact of NiOx Buffer Layers on the Dielectric Properties of BaTiO3 Thin Films on Nickel Substrates Fabricated by Polymer Assisted Deposition
المؤلفون المشاركون
Du, Hui
Li, Yang
Liang, Wei Zheng
Wang, Yu Xuan
Gao, Min
Huang, Wen
Zhang, Yin
Lin, Yuan
المصدر
العدد
المجلد 2015، العدد 2015 (31 ديسمبر/كانون الأول 2015)، ص ص. 1-7، 7ص.
الناشر
Hindawi Publishing Corporation
تاريخ النشر
2015-08-13
دولة النشر
مصر
عدد الصفحات
7
التخصصات الرئيسية
الملخص EN
Structural health monitoring with piezoelectric thin films integrated on structural metals shows great advantages for potential applications.
However, the integration of piezoelectric thin films on structure metals is still challenged.
In this paper, we report the piezoelectric barium titanate [BaTiO3 (BTO)] thin films deposited on polycrystalline Ni substrates by the polymer assisted deposition (PAD) method using NiOx as the buffer layers.
The NiOx buffer layers with different thicknesses were prepared by varying immersing time from 5 minutes to 4 hours in H2O2 solution.
The dielectric and leakage current properties of the thin films have been studied by general test systems.
The BTO/Ni heterostructure with 2-hour immersing time exhibits better dielectric properties with a dielectric constant over 1500 and a 34.8% decrease of the dielectric loss compared to that with 5-minute immersing time.
The results show that the leakage current density is strongly affected by the thickness of the NiOx buffer layer.
The conduction mechanisms of the BTO/Ni heterostructure have been discussed according to the J-V characteristic curves.
نمط استشهاد جمعية علماء النفس الأمريكية (APA)
Du, Hui& Li, Yang& Liang, Wei Zheng& Wang, Yu Xuan& Gao, Min& Huang, Wen…[et al.]. 2015. Impact of NiOx Buffer Layers on the Dielectric Properties of BaTiO3 Thin Films on Nickel Substrates Fabricated by Polymer Assisted Deposition. Journal of Nanomaterials،Vol. 2015, no. 2015, pp.1-7.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-1068785
نمط استشهاد الجمعية الأمريكية للغات الحديثة (MLA)
Du, Hui…[et al.]. Impact of NiOx Buffer Layers on the Dielectric Properties of BaTiO3 Thin Films on Nickel Substrates Fabricated by Polymer Assisted Deposition. Journal of Nanomaterials No. 2015 (2015), pp.1-7.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-1068785
نمط استشهاد الجمعية الطبية الأمريكية (AMA)
Du, Hui& Li, Yang& Liang, Wei Zheng& Wang, Yu Xuan& Gao, Min& Huang, Wen…[et al.]. Impact of NiOx Buffer Layers on the Dielectric Properties of BaTiO3 Thin Films on Nickel Substrates Fabricated by Polymer Assisted Deposition. Journal of Nanomaterials. 2015. Vol. 2015, no. 2015, pp.1-7.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-1068785
نوع البيانات
مقالات
لغة النص
الإنجليزية
الملاحظات
Includes bibliographical references
رقم السجل
BIM-1068785
قاعدة معامل التأثير والاستشهادات المرجعية العربي "ارسيف Arcif"
أضخم قاعدة بيانات عربية للاستشهادات المرجعية للمجلات العلمية المحكمة الصادرة في العالم العربي
![](/images/ebook-kashef.png)
تقوم هذه الخدمة بالتحقق من التشابه أو الانتحال في الأبحاث والمقالات العلمية والأطروحات الجامعية والكتب والأبحاث باللغة العربية، وتحديد درجة التشابه أو أصالة الأعمال البحثية وحماية ملكيتها الفكرية. تعرف اكثر
![](/images/kashef-image.png)