Surface Potential Analysis of Nanoscale Biomaterials and Devices Using Kelvin Probe Force Microscopy
المؤلفون المشاركون
Lee, Hyungbeen
Lee, Wonseok
Lee, Jeong Hoon
Yoon, Dae Sung
المصدر
العدد
المجلد 2016، العدد 2016 (31 ديسمبر/كانون الأول 2016)، ص ص. 1-21، 21ص.
الناشر
Hindawi Publishing Corporation
تاريخ النشر
2016-03-06
دولة النشر
مصر
عدد الصفحات
21
التخصصات الرئيسية
الملخص EN
In recent years, Kelvin probe force microscopy (KPFM) has emerged as a versatile toolkit for exploring electrical properties on a broad range of nanobiomaterials and molecules.
An analysis using KPFM can provide valuable sample information including surface potential and work function of a certain material.
Accordingly, KPFM has been widely used in the areas of material science, electronics, and biomedical science.
In this review, we will briefly explain the setup of KPFM and its measuring principle and then survey representative results of various KPFM applications ranging from material analysis to device analysis.
Finally, we will discuss some possibilities of KPFM on whether it is applicable to various sensor systems.
Our perspective shed unique light on how KPFM can be used as a biosensor as well as equipment to measure electrical properties of materials and to recognize various molecular interactions.
نمط استشهاد جمعية علماء النفس الأمريكية (APA)
Lee, Hyungbeen& Lee, Wonseok& Lee, Jeong Hoon& Yoon, Dae Sung. 2016. Surface Potential Analysis of Nanoscale Biomaterials and Devices Using Kelvin Probe Force Microscopy. Journal of Nanomaterials،Vol. 2016, no. 2016, pp.1-21.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-1109161
نمط استشهاد الجمعية الأمريكية للغات الحديثة (MLA)
Lee, Hyungbeen…[et al.]. Surface Potential Analysis of Nanoscale Biomaterials and Devices Using Kelvin Probe Force Microscopy. Journal of Nanomaterials No. 2016 (2016), pp.1-21.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-1109161
نمط استشهاد الجمعية الطبية الأمريكية (AMA)
Lee, Hyungbeen& Lee, Wonseok& Lee, Jeong Hoon& Yoon, Dae Sung. Surface Potential Analysis of Nanoscale Biomaterials and Devices Using Kelvin Probe Force Microscopy. Journal of Nanomaterials. 2016. Vol. 2016, no. 2016, pp.1-21.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-1109161
نوع البيانات
مقالات
لغة النص
الإنجليزية
الملاحظات
Includes bibliographical references
رقم السجل
BIM-1109161
قاعدة معامل التأثير والاستشهادات المرجعية العربي "ارسيف Arcif"
أضخم قاعدة بيانات عربية للاستشهادات المرجعية للمجلات العلمية المحكمة الصادرة في العالم العربي
تقوم هذه الخدمة بالتحقق من التشابه أو الانتحال في الأبحاث والمقالات العلمية والأطروحات الجامعية والكتب والأبحاث باللغة العربية، وتحديد درجة التشابه أو أصالة الأعمال البحثية وحماية ملكيتها الفكرية. تعرف اكثر