A Review on Key Issues and Challenges in Devices Level MEMS Testing
المؤلفون المشاركون
Shoaib, Muhammad
Hamid, Nor Hisham
Malik, Aamir Farooq
Zain Ali, Noohul Basheer
Tariq Jan, Mohammad
المصدر
العدد
المجلد 2016، العدد 2016 (31 ديسمبر/كانون الأول 2016)، ص ص. 1-14، 14ص.
الناشر
Hindawi Publishing Corporation
تاريخ النشر
2016-02-21
دولة النشر
مصر
عدد الصفحات
14
التخصصات الرئيسية
الملخص EN
The present review provides information relevant to issues and challenges in MEMS testing techniques that are implemented to analyze the microelectromechanical systems (MEMS) behavior for specific application and operating conditions.
MEMS devices are more complex and extremely diverse due to the immersion of multidomains.
Their failure modes are distinctive under different circumstances.
Therefore, testing of these systems at device level as well as at mass production level, that is, parallel testing, is becoming very challenging as compared to the IC test, because MEMS respond to electrical, physical, chemical, and optical stimuli.
Currently, test systems developed for MEMS devices have to be customized due to their nondeterministic behavior and complexity.
The accurate measurement of test systems for MEMS is difficult to quantify in the production phase.
The complexity of the device to be tested required maturity in the test technique which increases the cost of test development; this practice is directly imposed on the device cost.
This factor causes a delay in time-to-market.
نمط استشهاد جمعية علماء النفس الأمريكية (APA)
Shoaib, Muhammad& Hamid, Nor Hisham& Malik, Aamir Farooq& Zain Ali, Noohul Basheer& Tariq Jan, Mohammad. 2016. A Review on Key Issues and Challenges in Devices Level MEMS Testing. Journal of Sensors،Vol. 2016, no. 2016, pp.1-14.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-1110332
نمط استشهاد الجمعية الأمريكية للغات الحديثة (MLA)
Shoaib, Muhammad…[et al.]. A Review on Key Issues and Challenges in Devices Level MEMS Testing. Journal of Sensors No. 2016 (2016), pp.1-14.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-1110332
نمط استشهاد الجمعية الطبية الأمريكية (AMA)
Shoaib, Muhammad& Hamid, Nor Hisham& Malik, Aamir Farooq& Zain Ali, Noohul Basheer& Tariq Jan, Mohammad. A Review on Key Issues and Challenges in Devices Level MEMS Testing. Journal of Sensors. 2016. Vol. 2016, no. 2016, pp.1-14.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-1110332
نوع البيانات
مقالات
لغة النص
الإنجليزية
الملاحظات
Includes bibliographical references
رقم السجل
BIM-1110332
قاعدة معامل التأثير والاستشهادات المرجعية العربي "ارسيف Arcif"
أضخم قاعدة بيانات عربية للاستشهادات المرجعية للمجلات العلمية المحكمة الصادرة في العالم العربي
تقوم هذه الخدمة بالتحقق من التشابه أو الانتحال في الأبحاث والمقالات العلمية والأطروحات الجامعية والكتب والأبحاث باللغة العربية، وتحديد درجة التشابه أو أصالة الأعمال البحثية وحماية ملكيتها الفكرية. تعرف اكثر