Structural Studies of the Epitaxial Layer of a Substitutional Solid Solution (GaAs)1−x(ZnSe)x with Nanocrystals
المؤلفون المشاركون
Saidov, A. S.
Usmonov, Sh. N.
Saparov, D. V.
المصدر
Advances in Materials Science and Engineering
العدد
المجلد 2019، العدد 2019 (31 ديسمبر/كانون الأول 2019)، ص ص. 1-9، 9ص.
الناشر
Hindawi Publishing Corporation
تاريخ النشر
2019-01-06
دولة النشر
مصر
عدد الصفحات
9
الملخص EN
In this work, we explored the possibility of growing a substitutional solid solution (GaAs)1−x(ZnSe)x with an ordered array of nanosize crystals on GaAs (100) substrates.
Grown epitaxial films were investigated by the X-ray diffraction analysis method.
The chemical composition of the grown epitaxial films was determined by a X-ray microanalyzer, along the thickness of the epitaxial layer.
The photoluminescence spectrum was studied and a peak is observed at λmax = 465 nm, corresponding to the width of the band gap of zinc selenide EZnSe = 2.67 eV, which is apparently due to the nanocrystals ZnSe, disposed in the surface region of the epitaxial film of a solid solution (GaAs)1−x(ZnSe)x.
Size of nanocrystals were evaluated by an atomic force microscopy.
نمط استشهاد جمعية علماء النفس الأمريكية (APA)
Saidov, A. S.& Usmonov, Sh. N.& Saparov, D. V.. 2019. Structural Studies of the Epitaxial Layer of a Substitutional Solid Solution (GaAs)1−x(ZnSe)x with Nanocrystals. Advances in Materials Science and Engineering،Vol. 2019, no. 2019, pp.1-9.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-1119903
نمط استشهاد الجمعية الأمريكية للغات الحديثة (MLA)
Saidov, A. S.…[et al.]. Structural Studies of the Epitaxial Layer of a Substitutional Solid Solution (GaAs)1−x(ZnSe)x with Nanocrystals. Advances in Materials Science and Engineering No. 2019 (2019), pp.1-9.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-1119903
نمط استشهاد الجمعية الطبية الأمريكية (AMA)
Saidov, A. S.& Usmonov, Sh. N.& Saparov, D. V.. Structural Studies of the Epitaxial Layer of a Substitutional Solid Solution (GaAs)1−x(ZnSe)x with Nanocrystals. Advances in Materials Science and Engineering. 2019. Vol. 2019, no. 2019, pp.1-9.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-1119903
نوع البيانات
مقالات
لغة النص
الإنجليزية
الملاحظات
Includes bibliographical references
رقم السجل
BIM-1119903
قاعدة معامل التأثير والاستشهادات المرجعية العربي "ارسيف Arcif"
أضخم قاعدة بيانات عربية للاستشهادات المرجعية للمجلات العلمية المحكمة الصادرة في العالم العربي
تقوم هذه الخدمة بالتحقق من التشابه أو الانتحال في الأبحاث والمقالات العلمية والأطروحات الجامعية والكتب والأبحاث باللغة العربية، وتحديد درجة التشابه أو أصالة الأعمال البحثية وحماية ملكيتها الفكرية. تعرف اكثر