Modulation above Pump Beam Energy in Photoreflectance
المؤلف
المصدر
International Journal of Photoenergy
العدد
المجلد 2017، العدد 2017 (31 ديسمبر/كانون الأول 2017)، ص ص. 1-4، 4ص.
الناشر
Hindawi Publishing Corporation
تاريخ النشر
2017-07-09
دولة النشر
مصر
عدد الصفحات
4
التخصصات الرئيسية
الملخص EN
Photoreflectance is used for the characterisation of semiconductor samples, usually by sweeping the monochromatized probe beam within the energy range comprised between the highest value set up by the pump beam and the lowest absorption threshold of the sample.
There is, however, no fundamental upper limit for the probe beam other than the limited spectral content of the source and the responsivity of the detector.
As long as the modulation mechanism behind photoreflectance does affect the complete electronic structure of the material under study, sweeping the probe beam towards higher energies from that of the pump source is equally effective in order to probe high-energy critical points.
This fact, up to now largely overseen, is shown experimentally in this work.
E1 and E0 + Δ0 critical points of bulk GaAs are unambiguously resolved using pump light of lower energy.
This type of upstream modulation may widen further applications of the technique.
نمط استشهاد جمعية علماء النفس الأمريكية (APA)
Fuertes Marrón, D.. 2017. Modulation above Pump Beam Energy in Photoreflectance. International Journal of Photoenergy،Vol. 2017, no. 2017, pp.1-4.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-1168261
نمط استشهاد الجمعية الأمريكية للغات الحديثة (MLA)
Fuertes Marrón, D.. Modulation above Pump Beam Energy in Photoreflectance. International Journal of Photoenergy No. 2017 (2017), pp.1-4.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-1168261
نمط استشهاد الجمعية الطبية الأمريكية (AMA)
Fuertes Marrón, D.. Modulation above Pump Beam Energy in Photoreflectance. International Journal of Photoenergy. 2017. Vol. 2017, no. 2017, pp.1-4.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-1168261
نوع البيانات
مقالات
لغة النص
الإنجليزية
الملاحظات
Includes bibliographical references
رقم السجل
BIM-1168261
قاعدة معامل التأثير والاستشهادات المرجعية العربي "ارسيف Arcif"
أضخم قاعدة بيانات عربية للاستشهادات المرجعية للمجلات العلمية المحكمة الصادرة في العالم العربي
تقوم هذه الخدمة بالتحقق من التشابه أو الانتحال في الأبحاث والمقالات العلمية والأطروحات الجامعية والكتب والأبحاث باللغة العربية، وتحديد درجة التشابه أو أصالة الأعمال البحثية وحماية ملكيتها الفكرية. تعرف اكثر