An Analysis of ZnS:Cu Phosphor Layer Thickness Influence on Electroluminescence Device Performances
المؤلفون المشاركون
Chansri, Pakpoom
Arunrungrusmi, Somchai
Yuji, Toshifumi
Mungkung, Narong
المصدر
International Journal of Photoenergy
العدد
المجلد 2017، العدد 2017 (31 ديسمبر/كانون الأول 2017)، ص ص. 1-4، 4ص.
الناشر
Hindawi Publishing Corporation
تاريخ النشر
2017-07-24
دولة النشر
مصر
عدد الصفحات
4
التخصصات الرئيسية
الملخص EN
Electroluminescence (EL) device is a new technology; its thickness is within micrometer range which can bend more easily and emit light.
However, the thickness of ZnS:Cu phosphor layer may affect the light intensity, so we have analyzed the thickness of ZnS:Cu phosphor layer on EL device.
The EL devices consist of ITO:PET/ZnS:Cu phosphor/insulator (BaTiO3)/Ag electrode.
The EL devices were fabricated in changing thickness 10 μm, 30 μm, and 50 μm.
At 100 V 400 Hz, the luminance of EL devices was 51.22 cd/m2 for thickness 30 μm more than that of 45.78 cd/m2 (thickness: 10 μm) and 42.58 cd/m2 (thickness: 50 μm).
However, the peak light intensity was achieved at wavelength of 507 nm which was not influenced by the thickness of the ZnS:Cu phosphor.
The use of the ZnS:Cu phosphor layer at thickness 30 μm in the EL device significantly improves the luminescence performance.
نمط استشهاد جمعية علماء النفس الأمريكية (APA)
Chansri, Pakpoom& Arunrungrusmi, Somchai& Yuji, Toshifumi& Mungkung, Narong. 2017. An Analysis of ZnS:Cu Phosphor Layer Thickness Influence on Electroluminescence Device Performances. International Journal of Photoenergy،Vol. 2017, no. 2017, pp.1-4.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-1168349
نمط استشهاد الجمعية الأمريكية للغات الحديثة (MLA)
Chansri, Pakpoom…[et al.]. An Analysis of ZnS:Cu Phosphor Layer Thickness Influence on Electroluminescence Device Performances. International Journal of Photoenergy No. 2017 (2017), pp.1-4.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-1168349
نمط استشهاد الجمعية الطبية الأمريكية (AMA)
Chansri, Pakpoom& Arunrungrusmi, Somchai& Yuji, Toshifumi& Mungkung, Narong. An Analysis of ZnS:Cu Phosphor Layer Thickness Influence on Electroluminescence Device Performances. International Journal of Photoenergy. 2017. Vol. 2017, no. 2017, pp.1-4.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-1168349
نوع البيانات
مقالات
لغة النص
الإنجليزية
الملاحظات
Includes bibliographical references
رقم السجل
BIM-1168349
قاعدة معامل التأثير والاستشهادات المرجعية العربي "ارسيف Arcif"
أضخم قاعدة بيانات عربية للاستشهادات المرجعية للمجلات العلمية المحكمة الصادرة في العالم العربي
تقوم هذه الخدمة بالتحقق من التشابه أو الانتحال في الأبحاث والمقالات العلمية والأطروحات الجامعية والكتب والأبحاث باللغة العربية، وتحديد درجة التشابه أو أصالة الأعمال البحثية وحماية ملكيتها الفكرية. تعرف اكثر