Corrigendum to “Sensitivity of P-Channel MOSFET to X- and Gamma-Ray Irradiation”

تاريخ النشر

2020-08-31

دولة النشر

مصر

عدد الصفحات

التخصصات الرئيسية

الكيمياء

الملخص EN

In the article titled “Sensitivity of P-Channel MOSFET to X- and Gamma-Ray Irradiation” [1], there was an error in the drawing of Figure 2, which should be corrected as follows:

نمط استشهاد جمعية علماء النفس الأمريكية (APA)

Pejović, Milić& Ciraj-Bjelac, Olivera& Kovačević, Milojko& Rajović, Zoran& Ilić, Gvozden. 2020. Corrigendum to “Sensitivity of P-Channel MOSFET to X- and Gamma-Ray Irradiation”. International Journal of Photoenergy،Vol. 2020, no. 2020, pp.1-2.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-1173129

نمط استشهاد الجمعية الأمريكية للغات الحديثة (MLA)

Pejović, Milić…[et al.]. Corrigendum to “Sensitivity of P-Channel MOSFET to X- and Gamma-Ray Irradiation”. International Journal of Photoenergy No. 2020 (2020), pp.1-2.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-1173129

نمط استشهاد الجمعية الطبية الأمريكية (AMA)

Pejović, Milić& Ciraj-Bjelac, Olivera& Kovačević, Milojko& Rajović, Zoran& Ilić, Gvozden. Corrigendum to “Sensitivity of P-Channel MOSFET to X- and Gamma-Ray Irradiation”. International Journal of Photoenergy. 2020. Vol. 2020, no. 2020, pp.1-2.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-1173129

نوع البيانات

مقالات

لغة النص

الإنجليزية

الملاحظات

Includes bibliographical references

رقم السجل

BIM-1173129

حفظتم الحفظ طباعة

قاعدة معامل التأثير والاستشهادات المرجعية العربي "ارسيف Arcif"

أضخم قاعدة بيانات عربية للاستشهادات المرجعية للمجلات العلمية المحكمة الصادرة في العالم العربي

منصة "معرفة" للكتاب العربي الجامعي الرقمي

تقوم هذه الخدمة بالتحقق من التشابه أو الانتحال في الأبحاث والمقالات العلمية والأطروحات الجامعية والكتب والأبحاث باللغة العربية، وتحديد درجة التشابه أو أصالة الأعمال البحثية وحماية ملكيتها الفكرية. تعرف اكثر