![](/images/graphics-bg.png)
Stoichiometry Calculation in BaxSr1−xTiO3 Solid Solution Thin Films, Prepared by RF Cosputtering, Using X-Ray Diffraction Peak Positions and Boltzmann Sigmoidal Modelling
المؤلفون المشاركون
Zelaya Angel, O.
Márquez-Herrera, A.
Zapata-Torres, M.
Fernandez-Muñoz, J. L.
Melendez-Lira, M.
Caballero-Briones, F.
Chalé-Lara, F.
Reséndiz-Muñoz, J.
Corona-Rivera, M. A.
المصدر
العدد
المجلد 2017، العدد 2017 (31 ديسمبر/كانون الأول 2017)، ص ص. 1-8، 8ص.
الناشر
Hindawi Publishing Corporation
تاريخ النشر
2017-08-09
دولة النشر
مصر
عدد الصفحات
8
التخصصات الرئيسية
الملخص EN
A novel procedure based on the use of the Boltzmann equation to model the x parameter, the film deposition rate, and the optical band gap of BaxSr1−xTiO3 thin films is proposed.
The BaxSr1−xTiO3 films were prepared by RF cosputtering from BaTiO3 and SrTiO3 targets changing the power applied to each magnetron to obtain different Ba/Sr contents.
The method to calculate x consisted of fitting the angular shift of (110), (111), and (211) diffraction peaks observed as the density of substitutional Ba2+ increases in the solid solution when the applied RF power increases, followed by a scale transformation from applied power to x parameter using the Boltzmann equation.
The Ba/Sr ratio was obtained from X-ray energy dispersive spectroscopy; the comparison with the X-ray diffraction derived composition shows a remarkable coincidence while the discrepancies offer a valuable diagnosis on the sputtering flux and phase composition.
The proposed method allows a quick setup of the RF cosputtering system to control film composition providing a versatile tool to optimization of the process.
نمط استشهاد جمعية علماء النفس الأمريكية (APA)
Reséndiz-Muñoz, J.& Fernandez-Muñoz, J. L.& Corona-Rivera, M. A.& Zapata-Torres, M.& Márquez-Herrera, A.& Melendez-Lira, M.…[et al.]. 2017. Stoichiometry Calculation in BaxSr1−xTiO3 Solid Solution Thin Films, Prepared by RF Cosputtering, Using X-Ray Diffraction Peak Positions and Boltzmann Sigmoidal Modelling. Journal of Nanomaterials،Vol. 2017, no. 2017, pp.1-8.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-1183003
نمط استشهاد الجمعية الأمريكية للغات الحديثة (MLA)
Reséndiz-Muñoz, J.…[et al.]. Stoichiometry Calculation in BaxSr1−xTiO3 Solid Solution Thin Films, Prepared by RF Cosputtering, Using X-Ray Diffraction Peak Positions and Boltzmann Sigmoidal Modelling. Journal of Nanomaterials No. 2017 (2017), pp.1-8.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-1183003
نمط استشهاد الجمعية الطبية الأمريكية (AMA)
Reséndiz-Muñoz, J.& Fernandez-Muñoz, J. L.& Corona-Rivera, M. A.& Zapata-Torres, M.& Márquez-Herrera, A.& Melendez-Lira, M.…[et al.]. Stoichiometry Calculation in BaxSr1−xTiO3 Solid Solution Thin Films, Prepared by RF Cosputtering, Using X-Ray Diffraction Peak Positions and Boltzmann Sigmoidal Modelling. Journal of Nanomaterials. 2017. Vol. 2017, no. 2017, pp.1-8.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-1183003
نوع البيانات
مقالات
لغة النص
الإنجليزية
الملاحظات
Includes bibliographical references
رقم السجل
BIM-1183003
قاعدة معامل التأثير والاستشهادات المرجعية العربي "ارسيف Arcif"
أضخم قاعدة بيانات عربية للاستشهادات المرجعية للمجلات العلمية المحكمة الصادرة في العالم العربي
![](/images/ebook-kashef.png)
تقوم هذه الخدمة بالتحقق من التشابه أو الانتحال في الأبحاث والمقالات العلمية والأطروحات الجامعية والكتب والأبحاث باللغة العربية، وتحديد درجة التشابه أو أصالة الأعمال البحثية وحماية ملكيتها الفكرية. تعرف اكثر
![](/images/kashef-image.png)