Invariance of Deficiency Indices of Second-Order Symmetric Linear Difference Equations under Perturbations
المؤلف
المصدر
العدد
المجلد 2020، العدد 2020 (31 ديسمبر/كانون الأول 2020)، ص ص. 1-6، 6ص.
الناشر
Hindawi Publishing Corporation
تاريخ النشر
2020-02-13
دولة النشر
مصر
عدد الصفحات
6
التخصصات الرئيسية
الملخص EN
This paper focuses on the invariance of deficiency indices of second-order symmetric linear difference equations under perturbations.
By applying the perturbation theory of Hermitian linear relations, the invariance of deficiency indices of the corresponding minimal subspaces under bounded and relatively bounded perturbations is built.
As a consequence, the invariance of limit types of second-order symmetric linear difference equations under bounded and relatively bounded perturbations is obtained.
نمط استشهاد جمعية علماء النفس الأمريكية (APA)
Liu, Yan. 2020. Invariance of Deficiency Indices of Second-Order Symmetric Linear Difference Equations under Perturbations. Journal of Function Spaces،Vol. 2020, no. 2020, pp.1-6.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-1185215
نمط استشهاد الجمعية الأمريكية للغات الحديثة (MLA)
Liu, Yan. Invariance of Deficiency Indices of Second-Order Symmetric Linear Difference Equations under Perturbations. Journal of Function Spaces No. 2020 (2020), pp.1-6.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-1185215
نمط استشهاد الجمعية الطبية الأمريكية (AMA)
Liu, Yan. Invariance of Deficiency Indices of Second-Order Symmetric Linear Difference Equations under Perturbations. Journal of Function Spaces. 2020. Vol. 2020, no. 2020, pp.1-6.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-1185215
نوع البيانات
مقالات
لغة النص
الإنجليزية
الملاحظات
Includes bibliographical references
رقم السجل
BIM-1185215
قاعدة معامل التأثير والاستشهادات المرجعية العربي "ارسيف Arcif"
أضخم قاعدة بيانات عربية للاستشهادات المرجعية للمجلات العلمية المحكمة الصادرة في العالم العربي
تقوم هذه الخدمة بالتحقق من التشابه أو الانتحال في الأبحاث والمقالات العلمية والأطروحات الجامعية والكتب والأبحاث باللغة العربية، وتحديد درجة التشابه أو أصالة الأعمال البحثية وحماية ملكيتها الفكرية. تعرف اكثر