![](/images/graphics-bg.png)
On Generalized Topological Indices of Silicon-Carbon
المؤلفون المشاركون
Liu, Jia-Bao
Siddiqui, Muhammad Kamran
Wang, Xing-Long
Jahanbani, Akbar
Rad, Nader Jafari
Hasni, Roslan
المصدر
العدد
المجلد 2020، العدد 2020 (31 ديسمبر/كانون الأول 2020)، ص ص. 1-21، 21ص.
الناشر
Hindawi Publishing Corporation
تاريخ النشر
2020-04-08
دولة النشر
مصر
عدد الصفحات
21
التخصصات الرئيسية
الملخص EN
Let Gbe a graph with n vertices and Γu be the degree of its u-th vertex (Γx is the degree of u).
In this article, we compute the generalization of Zagreb index, the generalized Zagreb index, the first and second hyper F-indices, the sum connectivity F-index, and the product connectivity F-index graphs of Si2C3−Ip,q, Si2C3−IIp,q, Si2C3−IIIp,q, and SiC3−IIIp,q.
نمط استشهاد جمعية علماء النفس الأمريكية (APA)
Wang, Xing-Long& Liu, Jia-Bao& Jahanbani, Akbar& Siddiqui, Muhammad Kamran& Rad, Nader Jafari& Hasni, Roslan. 2020. On Generalized Topological Indices of Silicon-Carbon. Journal of Mathematics،Vol. 2020, no. 2020, pp.1-21.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-1188003
نمط استشهاد الجمعية الأمريكية للغات الحديثة (MLA)
Wang, Xing-Long…[et al.]. On Generalized Topological Indices of Silicon-Carbon. Journal of Mathematics No. 2020 (2020), pp.1-21.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-1188003
نمط استشهاد الجمعية الطبية الأمريكية (AMA)
Wang, Xing-Long& Liu, Jia-Bao& Jahanbani, Akbar& Siddiqui, Muhammad Kamran& Rad, Nader Jafari& Hasni, Roslan. On Generalized Topological Indices of Silicon-Carbon. Journal of Mathematics. 2020. Vol. 2020, no. 2020, pp.1-21.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-1188003
نوع البيانات
مقالات
لغة النص
الإنجليزية
الملاحظات
Includes bibliographical references
رقم السجل
BIM-1188003
قاعدة معامل التأثير والاستشهادات المرجعية العربي "ارسيف Arcif"
أضخم قاعدة بيانات عربية للاستشهادات المرجعية للمجلات العلمية المحكمة الصادرة في العالم العربي
![](/images/ebook-kashef.png)
تقوم هذه الخدمة بالتحقق من التشابه أو الانتحال في الأبحاث والمقالات العلمية والأطروحات الجامعية والكتب والأبحاث باللغة العربية، وتحديد درجة التشابه أو أصالة الأعمال البحثية وحماية ملكيتها الفكرية. تعرف اكثر
![](/images/kashef-image.png)