A new fault injection approach to study the impact of bit flips in the configuration of SRAM-based FPGAS
المؤلفون المشاركون
Ziyadah, Haytham
Ayoubi, Rafiq
Idriss, Tariq
Velazco, Raoul
المصدر
The International Arab Journal of Information Technology
العدد
المجلد 8، العدد 2 (30 إبريل/نيسان 2011)، ص ص. 155-162، 8ص.
الناشر
تاريخ النشر
2011-04-30
دولة النشر
الأردن
عدد الصفحات
8
التخصصات الرئيسية
تكنولوجيا المعلومات وعلم الحاسوب
الموضوعات
الملخص EN
A new method for injecting faults in the configuration bits of SRAM-based FPGAs is proposed.
The main advantages over previous methods are its ability to simultaneously inject several faults or bit-flips in the FPGA by "pipelining" the fault injection process.
The design to be tested is divided into modules.
The first step in the fault injection technique would be inserting one fault in each of the modules and observing the potential misbehavior of these modules.
In the second step the effects on the whole system of the misbehavior of the module are independently evaluated.
Using this technique makes possible to inject several faults when reconfiguring the FPGA with the faulty bit stream, while other techniques were able to insert only one fault on each reconfiguration.
Thus the speed in which faults are injected is significantly increased and the time needed to conduct the experiment is shortened.
A simulation is described to validate the new fault injection process.
نمط استشهاد جمعية علماء النفس الأمريكية (APA)
Ziyadah, Haytham& Ayoubi, Rafiq& Velazco, Raoul& Idriss, Tariq. 2011. A new fault injection approach to study the impact of bit flips in the configuration of SRAM-based FPGAS. The International Arab Journal of Information Technology،Vol. 8, no. 2, pp.155-162.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-249332
نمط استشهاد الجمعية الأمريكية للغات الحديثة (MLA)
Ziyadah, Haytham…[et al.]. A new fault injection approach to study the impact of bit flips in the configuration of SRAM-based FPGAS. The International Arab Journal of Information Technology Vol. 8, no. 2 (Apr. 2011), pp.155-162.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-249332
نمط استشهاد الجمعية الطبية الأمريكية (AMA)
Ziyadah, Haytham& Ayoubi, Rafiq& Velazco, Raoul& Idriss, Tariq. A new fault injection approach to study the impact of bit flips in the configuration of SRAM-based FPGAS. The International Arab Journal of Information Technology. 2011. Vol. 8, no. 2, pp.155-162.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-249332
نوع البيانات
مقالات
لغة النص
الإنجليزية
الملاحظات
Includes bibliographical references : p. 161-162
رقم السجل
BIM-249332
قاعدة معامل التأثير والاستشهادات المرجعية العربي "ارسيف Arcif"
أضخم قاعدة بيانات عربية للاستشهادات المرجعية للمجلات العلمية المحكمة الصادرة في العالم العربي
تقوم هذه الخدمة بالتحقق من التشابه أو الانتحال في الأبحاث والمقالات العلمية والأطروحات الجامعية والكتب والأبحاث باللغة العربية، وتحديد درجة التشابه أو أصالة الأعمال البحثية وحماية ملكيتها الفكرية. تعرف اكثر