Optical and structure properties of Mgx Zn1_x O thin films by pulsed laser deposition

العناوين الأخرى

دراسة الخصائص البصرية و التركيبية لأغشية Mgx Zn1-x O بالترسيب بالليزر

المؤلفون المشاركون

Simon, Jihan E.
Haydar, Adawiya Jumah

المصدر

Engineering and Technology Journal

العدد

المجلد 27، العدد 14 (30 نوفمبر/تشرين الثاني 2009)، ص ص. 2653-2665، 13ص.

الناشر

الجامعة التكنولوجية

تاريخ النشر

2009-11-30

دولة النشر

العراق

عدد الصفحات

13

التخصصات الرئيسية

الكيمياء

الموضوعات

الملخص AR

تم في هذا البحث دراسة الخصائص البصرية و التركيبية لأغشية .MgxZn1-xO و تم تحضير الأغشية على قواعد زجاجية من خلال خلط أوكسيد الخارصين و المغنيسيوم بنسب وزنية مختلفة تتراوح بين (0-0.3) wt % باستخدام الترسيب بليزر النديميوم الياك النبضي العامل بتقنية مفتاح عامل النوعية لتوليد التوافق الثاني ذو الطول الموجي (532) nm، رسبت الأغشية عند درجة حرارة .(2500C) تم دراسة الخصائص البصرية بقياس طيفي النفاذية و الامتصاص.

أن معدل النفاذية لكل الأغشية بالمنطقة فوق البنفسيجية للأطوال الموجية بين (200-900)nm فوق 85 % و تزاح حافة الامتصاص باتجاه الأطوال الموجية الأقصر بزيادة تركيز المغنيسيوم.

و كانت فجوة الطاقة البصرية لأغشية MgxZn1-xO المقاسة من طيف النفاذية بين (3.3-4.2) e V و التي يمكن السيطرة عليها بتغيير تركيز المغنيسيوم.

تم دراسة التركيب البلوري للفم المرسب باستخدام أشعة .X-ray يقل معامل الانكسار لأغشية MgxZn1-Xo بزيادة تركيز المغنيسيوم، مثلا يقل معامل الانكسار من 1.93 إلى 1.85 عند الطول الموجي 500nm بزيادة X من 0.15 إلى 0.3، كذلك تم دراسة معامل الخمود و ثابت العزل.

الملخص EN

-In this study, the optical and structure properties of Mgx Zn1.x O thin films is reported.

The Mgx Zn1.xO thin films were prepared on Glass substrates by Q-switch second harmonic Nd:YAG laser deposition technigue with wavelength of 532nm from a ZnO target mixed with Mg of (0-0.3) wt% , and the films deposited at temperature (250°C).

The optical properties were characterized by transmittance and absorption spectroscopy measurements.

For all the films the average transmission in the U.V (200-900) nm wavelength region was over 85% and the absorption edge shifted to a shorter wavelength as the magnesium concentration increased.

The optical energy gap of Mgx Zn1-x O thin films, measured from transmittance spectra could be controlled between (3.3eV and 4.2eV) by adjusting magnesium concentration.

X-ray diffraction was used to investigate the structure of the film.

The refractive index of hexagonal MgxZn1-xO thin films decreases with the Mg concentration increase, such as at the wavelength of (500nm) the refractive index decreases from 1.93 to 1.85 as x increase from 0.15 to 0.3.

The extinction coefficient and the complex dielectric constant were also investigate.

نمط استشهاد جمعية علماء النفس الأمريكية (APA)

Haydar, Adawiya Jumah& Simon, Jihan E.. 2009. Optical and structure properties of Mgx Zn1_x O thin films by pulsed laser deposition. Engineering and Technology Journal،Vol. 27, no. 14, pp.2653-2665.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-261797

نمط استشهاد الجمعية الأمريكية للغات الحديثة (MLA)

Haydar, Adawiya Jumah& Simon, Jihan E.. Optical and structure properties of Mgx Zn1_x O thin films by pulsed laser deposition. Engineering and Technology Journal Vol. 27, no. 14 (2009), pp.2653-2665.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-261797

نمط استشهاد الجمعية الطبية الأمريكية (AMA)

Haydar, Adawiya Jumah& Simon, Jihan E.. Optical and structure properties of Mgx Zn1_x O thin films by pulsed laser deposition. Engineering and Technology Journal. 2009. Vol. 27, no. 14, pp.2653-2665.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-261797

نوع البيانات

مقالات

لغة النص

الإنجليزية

الملاحظات

Includes bibliographical references : p. 2657-2658

رقم السجل

BIM-261797