Data acquisition of TiO2 for optical material by using spectroscopic ellipsometry technique

العناوين الأخرى

لمواد بصرية باستخدام تقنيات التحليل الطيفي لمنظومة الأليبسومتري (Ellisometry)‎ TiO الحصول على البيانات من 2

المؤلف

Raouf, Asad Sabih Mohammad

المصدر

Engineering and Technology Journal

العدد

المجلد 28، العدد 20 (31 ديسمبر/كانون الأول 2010)، ص ص. 6128-6139، 12ص.

الناشر

الجامعة التكنولوجية

تاريخ النشر

2010-12-31

دولة النشر

العراق

عدد الصفحات

12

التخصصات الرئيسية

تكنولوجيا المعلومات وعلم الحاسوب

الموضوعات

الملخص AR

باستخدام منظومة سطح القطع الناقص الاليبسوميتري (Ellipsometric) المختبرية الجاهزة ذو النوع SOPRA ES4G و التي تمتلك خلال استخدام برنامجها الخاص و المسمى WVASE لحساب التفاضل و التكامل النظري للمعاملات الاليبسوميترية Ellipsometry .(parameters) و يمكن لتقنية الاليبسوميتري (Ellipsometric) تحديد قياسات معلومات السعة و الطور Δ و Ψ ضمن مدى طول موجي يتراوح بين 250-900 نانوميتر (1.5-5 اليكترون فولت) و على أساس هذه المعلومات قد تم تطوير حلول عملية.

أن نتائج البحث كانت مشجعة و مرضية لثنائي أوكسيد التتانيوم TiO2 و تم الحصول عليها من خلال تطبيق أسلوب البسيط لسطح القطع الناقص باستخدام الاليبسوميتري (Ellipsometric) من السمت لتحديد الثوابت البصرية لثاني أكسيد التتانيوم TiO2 مع هذا الجهاز الأليكتون-بصري (optoelectronic device) و المسمى بالاليبسوميتري (Ellipsometric).

الملخص EN

An Ellipsometric experimental set up of SOPRA ES4G type with a powerful WVASE software for the theoretical calculus of the Ellipsometry parameters.

The Ellipsometry Technique can determine amplitude and phase information Ψ( and Δ) dependent on wavelength range 250 nm to 900 nm (1.5 - 5 eV), including original practical solutions, were developed.

Encouraging results of TiO2 were obtained in applying the simple Ellipsometric method of azimuths to determine the optical constants for TiO2 with this optoelectronic device.

نمط استشهاد جمعية علماء النفس الأمريكية (APA)

Raouf, Asad Sabih Mohammad. 2010. Data acquisition of TiO2 for optical material by using spectroscopic ellipsometry technique. Engineering and Technology Journal،Vol. 28, no. 20, pp.6128-6139.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-261888

نمط استشهاد الجمعية الأمريكية للغات الحديثة (MLA)

Raouf, Asad Sabih Mohammad. Data acquisition of TiO2 for optical material by using spectroscopic ellipsometry technique. Engineering and Technology Journal Vol. 28, no. 20 (2010), pp.6128-6139.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-261888

نمط استشهاد الجمعية الطبية الأمريكية (AMA)

Raouf, Asad Sabih Mohammad. Data acquisition of TiO2 for optical material by using spectroscopic ellipsometry technique. Engineering and Technology Journal. 2010. Vol. 28, no. 20, pp.6128-6139.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-261888

نوع البيانات

مقالات

لغة النص

الإنجليزية

الملاحظات

Includes appendices : p. 6135-6139

رقم السجل

BIM-261888