The effect of annealing on the physical properties of thermally evaporated cadmium sulphide thin films
العناوين الأخرى
تأثير التلدين على الخصائص الفيزيائية للأغشية الرقيقة لكبريتيد الكادميوم المحضرة بواسطة التبخير الحراري
المؤلف
المصدر
Engineering and Technology Journal
العدد
المجلد 30، العدد 5 (31 يناير/كانون الثاني 2012)، ص ص. 886-896، 11ص.
الناشر
تاريخ النشر
2012-01-31
دولة النشر
العراق
عدد الصفحات
11
التخصصات الرئيسية
الموضوعات
الملخص AR
حضرت أغشية رقيقة نقية من كبريتيد الكادميوم و بظروف مختلفة على قواعد زجاجية في الفراغ باستخدام تقنية التبخير الحراري في درجة حرارة للقاعدة مساوية الى 100 درجة مئوية و تحت ضغط فراغ = 10-6 تور و بدرجات حرارة تلدين ما بين (C° 500 - 300) و زمن تلدين ما بين (85 min – 10).
درست الخصائص التركيبية للأغشية من خلال حيود الأشعة السينية.
و قد أظهرت النتائج لحيود الأشعة السينية ان الأغشية ذات نظام سداسي منفرد و ان المادة عالية التبلور و قد تم حساب بعض المتغيرات التركيبية من طيف الأشعة السينية مثل ثابت الشبيكة و معدل الحجم الحبيبي و الإجهاد المايكروي.
كذلك تم استخدام تقنية مجهر القوى الذرية (AFM) للتعرف على طبوغرافية الأغشية و قد تبين ان الغشاء تقل خشونته مع ازدياد درجة حرارة التلدين.
و ان فجوة الطاقة هي مباشرة تتراوح ما بين (2.35eV - 2.15) للنماذج المحضرة في درجات حرارة التلدين (C° 500 - 300) و فجوة طاقة (2.34 eV - 2.33) للنماذج التي زمن التلدين لها ما بين (85 min to 10 min) و عند درجة حرارة o C 200.
و من طيف النفاذية للنماذج المحضرة تبين ان قيمة النفاذية للنماذج المحضرة تتراوح ما بين 50 - %80.
الملخص EN
Pure Cd S thin films with different condition have been successfully deposited by thermal evaporation in vacuum on glass slide substrates.
The substrates temperature of about 100oC and the vacuum of about 10-6 Torr.
The film was annealing with different temperature (300 to 500oC) and different time of annealing (10 to 85min).
The film structure properties were characterized by x-ray diffraction (XRD).
XRD patterns indicated the presence of single–faze hexagonal Cd S with good crystalline, some of the structural characterization such as lattice constant, average grain size and micro strain are calculated from the X-rays pattern.
The average roughness was obtained by using AFM scanning microscope, which shows that the average roughness decreased with increase the annealing temperature.
Direct band gap values of (2.35 to 2.15eV) for different annealing temperature (300-500oC) and (2.34 to 2.33eV) for (10min to 85min) annealing time at 200oC annealing temperature respectively, the transmission value of prepared samples are between (50-80 %).
نمط استشهاد جمعية علماء النفس الأمريكية (APA)
Jamil, Shatha Shammun Batrus. 2012. The effect of annealing on the physical properties of thermally evaporated cadmium sulphide thin films. Engineering and Technology Journal،Vol. 30, no. 5, pp.886-896.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-297116
نمط استشهاد الجمعية الأمريكية للغات الحديثة (MLA)
Jamil, Shatha Shammun Batrus. The effect of annealing on the physical properties of thermally evaporated cadmium sulphide thin films. Engineering and Technology Journal Vol. 30, no. 5 (2012), pp.886-896.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-297116
نمط استشهاد الجمعية الطبية الأمريكية (AMA)
Jamil, Shatha Shammun Batrus. The effect of annealing on the physical properties of thermally evaporated cadmium sulphide thin films. Engineering and Technology Journal. 2012. Vol. 30, no. 5, pp.886-896.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-297116
نوع البيانات
مقالات
لغة النص
الإنجليزية
الملاحظات
Includes appendices : p. 890-896
رقم السجل
BIM-297116
قاعدة معامل التأثير والاستشهادات المرجعية العربي "ارسيف Arcif"
أضخم قاعدة بيانات عربية للاستشهادات المرجعية للمجلات العلمية المحكمة الصادرة في العالم العربي
تقوم هذه الخدمة بالتحقق من التشابه أو الانتحال في الأبحاث والمقالات العلمية والأطروحات الجامعية والكتب والأبحاث باللغة العربية، وتحديد درجة التشابه أو أصالة الأعمال البحثية وحماية ملكيتها الفكرية. تعرف اكثر