Growth and electrical characterization of TlInTe2 single crystal

العناوين الأخرى

إنماء و دراسة الخواص الكهربائية لبلورة TlInTe2 أحادية الطور

المؤلفون المشاركون

al-Ghamidi, Ahmad Abd Allah
al-Hunayti, Salih
Bahabari, Fatimah Salim
Abbas, Najat Tawfiq
al-Harbi, Siham Rif
al-Hazimi, Faraj Said
Mubarak, Mustafa Muhammad

المصدر

Journal of King Abdulaziz University : Sciences

العدد

المجلد 20، العدد 2 (31 ديسمبر/كانون الأول 2008)، ص ص. 27-38، 12ص.

الناشر

جامعة الملك عبد العزيز مركز النشر العلمي

تاريخ النشر

2008-12-31

دولة النشر

السعودية

عدد الصفحات

12

التخصصات الرئيسية

الفيزياء

الموضوعات

الملخص AR

تم بناء و تصميم جهاز عالي الكفاءة لإنماء بلورات TIIn Te² أحادية الطور على طريقة بريد جمان محليا.

تمت دراسة الموصلية الكهربائية و معامل، هول لهذه البلورات، في المدى من درجات الحرارة 473-158 كلفن.

من خلال دراسة الموصلية نيين أنها من نوع P-type، و أن قيمة معامل هول و Rн = 2.3*10 cm³ / C عند درجة حرارة الغرفة، و تركيز ناقلة الشحنة هو2.81 × 10 cm .

كما تم تعيين اتساع طاقة الفجوة ∆Eg، و كذلك طاقة التايين لتكونا 0.72ev و0.113eV على التوالي.

كما أن معامل الانتشار، و طول الانتشار، و زمن الاسترخاء تم تعيينهم في هذه الدراسة مع التأكد من ميكانيكية تشتت الشحنات.

الملخص EN

High efficiency design for single crystal growth from melt based on Bridgman technique is constructed locally and used for growing TlInTe2 crystals.

Measurements of Hall coefficient and DC electrical conductivity covering a temperature range from 158 to 473 K were conducted.

The investigated samples have P-Type conductivity with RH of 2.3 × 109 cm3 / coul.

at room temperature and carrier concentrations as 2.81×109 cm-3.

Energy gap ΔEg and ionization energy Δ Ea were estimated as 0.72 eV and 0.113 eV, respectively.

The diffusion coefficient, diffusion length, as well as relaxation time were evaluated, and the scattering mechanism of charge carrier was checked.

نمط استشهاد جمعية علماء النفس الأمريكية (APA)

al-Ghamidi, Ahmad Abd Allah& al-Hazimi, Faraj Said& al-Hunayti, Salih& Bahabari, Fatimah Salim& Mubarak, Mustafa Muhammad& al-Harbi, Siham Rif…[et al.]. 2008. Growth and electrical characterization of TlInTe2 single crystal. Journal of King Abdulaziz University : Sciences،Vol. 20, no. 2, pp.27-38.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-330094

نمط استشهاد الجمعية الأمريكية للغات الحديثة (MLA)

al-Hazimi, Faraj Said…[et al.]. Growth and electrical characterization of TlInTe2 single crystal. Journal of King Abdulaziz University : Sciences Vol. 20, no. 2 (2008), pp.27-38.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-330094

نمط استشهاد الجمعية الطبية الأمريكية (AMA)

al-Ghamidi, Ahmad Abd Allah& al-Hazimi, Faraj Said& al-Hunayti, Salih& Bahabari, Fatimah Salim& Mubarak, Mustafa Muhammad& al-Harbi, Siham Rif…[et al.]. Growth and electrical characterization of TlInTe2 single crystal. Journal of King Abdulaziz University : Sciences. 2008. Vol. 20, no. 2, pp.27-38.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-330094

نوع البيانات

مقالات

لغة النص

الإنجليزية

الملاحظات

Includes bibliographical references : p. 36-37

رقم السجل

BIM-330094