Morphology, chemical and electrical properties of CdO Nanoparticles on porous silicon
العناوين الأخرى
الخواص الطبوغرافية، الكيميائية و الكهربائية لدقائق اوكسيد الكادميوم النانوية على السليكون المسامي
المؤلفون المشاركون
Nayif, Adi Muhsin
Khalaf, Wafa Khalid
Husayn, Hasan Hadi
Salman, Aminah Ali
المصدر
العدد
المجلد 11، العدد 21 (30 يونيو/حزيران 2013)، ص ص. 102-107، 6ص.
الناشر
تاريخ النشر
2013-06-30
دولة النشر
العراق
عدد الصفحات
6
التخصصات الرئيسية
الموضوعات
الملخص AR
في هذا البحث، تم تحضير دقائق أوكسيد الكادميوم النانوية المحضرة بتقنية الترسيب بالليزر النبضي و المرسبة على السليكون المسامي المحضر بالتنميش الكهروكيميائي لشريحة سليكون من النوع (p) بمقاومية 1.5-4 أوم.
سم، باستخدام حامض الهيدروفلوريك بتركيز 20 %.
كثافة تيار التنميش 15 ملي امبير/سم2 و زمن تنميش 20 دقيقة.
تم دراسة الخصائص الطبوغرافية (AFM) و مطيافية تحويلات فورير للاشعة تحت الحمراء و الخواص الكهربائية.
مجهر القوى الذري يؤكد الحجم النانومتري.
كما أظهرت المركبات الكيميائية خلال التنميش الكهروكيمياوي على سطح السليكون المسامي و يحدث تغيرات في الطيف لأوكسيد الكادميوم المرسب على السليكون المسامي عند مقارنة مع طيف السليكون المسامي المحضربالتنميش الكهروكيمياوي (بالأنودة).
الخواص الكهربائية لطبقة السليكون المسامي المحضرة؛ أي المتمثلة خصائص كثافة تيار جهد تحت الظلام، أظهرت أن التيار المار خلال طبقة السليكون المسامي أكبر مقارنة مع التيار الحاصل من المفرق CdO/PS/Si و الذي له علاقة بكبر مقاومية المفرق الذي يأتي من زيادة عرض منطقة الاستنزاف.
الملخص EN
In this paper, CdO nanoparticles prepared by pulsed laser deposition techniqueonto a porous silicon (PS) surface prepared by electrochemical etching of p-type silicon wafer with resistivity (1.5-4Ω.cm) in hydrofluoric (HF) acid of 20 % concentration.
Current density (15 Ma / cm2) and etching times (20min).
The films were characterized by the measurement of AFM, FTIR spectroscopy and electrical properties. Atomic Force microscopy confirms the nanometric size.Chemical components during the electrochemical etching show on surface of PSchanges take place in the spectrum of CdO deposited PS when compared to as-anodized PS. The electrical properties of prepared PS ; namely current density-voltage characteristics under dark, show that the pass current through the PS layer is more than that obtained from the CdO / PS / Si which is related to increasing junction resistivity that come from increasing in depletion width.
نمط استشهاد جمعية علماء النفس الأمريكية (APA)
Khalaf, Wafa Khalid& Husayn, Hasan Hadi& Salman, Aminah Ali& Nayif, Adi Muhsin. 2013. Morphology, chemical and electrical properties of CdO Nanoparticles on porous silicon. Iraqi Journal of Physics،Vol. 11, no. 21, pp.102-107.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-344052
نمط استشهاد الجمعية الأمريكية للغات الحديثة (MLA)
Khalaf, Wafa Khalid…[et al.]. Morphology, chemical and electrical properties of CdO Nanoparticles on porous silicon. Iraqi Journal of Physics Vol. 11, no. 21 (2013), pp.102-107.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-344052
نمط استشهاد الجمعية الطبية الأمريكية (AMA)
Khalaf, Wafa Khalid& Husayn, Hasan Hadi& Salman, Aminah Ali& Nayif, Adi Muhsin. Morphology, chemical and electrical properties of CdO Nanoparticles on porous silicon. Iraqi Journal of Physics. 2013. Vol. 11, no. 21, pp.102-107.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-344052
نوع البيانات
مقالات
لغة النص
الإنجليزية
الملاحظات
Includes bibliographical references : p. 106-107
رقم السجل
BIM-344052
قاعدة معامل التأثير والاستشهادات المرجعية العربي "ارسيف Arcif"
أضخم قاعدة بيانات عربية للاستشهادات المرجعية للمجلات العلمية المحكمة الصادرة في العالم العربي
منصة "معرفة" للكتاب العربي الجامعي الرقمي 
تقوم هذه الخدمة بالتحقق من التشابه أو الانتحال في الأبحاث والمقالات العلمية والأطروحات الجامعية والكتب والأبحاث باللغة العربية، وتحديد درجة التشابه أو أصالة الأعمال البحثية وحماية ملكيتها الفكرية. تعرف اكثر
