المفقود من سنن الإمام سعيد بن منصور المتوفى سنة 227 هـ (من كتاب الطاهرة إلى كتاب الوديعة و الهبة) علي تريب كنز العمال : جمعا و تخريجا و دراسة
مقدم أطروحة جامعية
مشرف أطروحة جامعية
الجامعة
جامعة أم درمان الإسلامية
الكلية
كلية أصول الدين
القسم الأكاديمي
قسم السنة و علوم الحديث
دولة الجامعة
السودان
الدرجة العلمية
ماجستير
تاريخ الدرجة العلمية
2010
التخصصات الرئيسية
الموضوعات
- الكلام
- التراجم
- الخطابة
- الحديث الشريف
- جامع الترمذي
- سنن أبي داود
- سنن ابن ماجة
- سنن النسائي
- رواية الحديث
- علماء الحديث الشريف
عدد الصفحات
831
قائمة المحتويات
فهرس المحتويات / الموضوعات.
المقدمة.
القسم الأول : الدراسة النظرية.
القسم الثاني : الدراسة العملية (التخريج و الدراسة).
الخاتمة.
قائمة المراجع.
نمط استشهاد جمعية علماء النفس الأمريكية (APA)
الأمين، هاجر الشعراني التوم. (2010). المفقود من سنن الإمام سعيد بن منصور المتوفى سنة 227 هـ (من كتاب الطاهرة إلى كتاب الوديعة و الهبة) علي تريب كنز العمال : جمعا و تخريجا و دراسة. (أطروحة ماجستير). جامعة أم درمان الإسلامية, السودان
https://search.emarefa.net/detail/BIM-344856
نمط استشهاد الجمعية الأمريكية للغات الحديثة (MLA)
الأمين، هاجر الشعراني التوم. المفقود من سنن الإمام سعيد بن منصور المتوفى سنة 227 هـ (من كتاب الطاهرة إلى كتاب الوديعة و الهبة) علي تريب كنز العمال : جمعا و تخريجا و دراسة. (أطروحة ماجستير). جامعة أم درمان الإسلامية. (2010).
https://search.emarefa.net/detail/BIM-344856
نمط استشهاد الجمعية الطبية الأمريكية (AMA)
الأمين، هاجر الشعراني التوم. (2010). المفقود من سنن الإمام سعيد بن منصور المتوفى سنة 227 هـ (من كتاب الطاهرة إلى كتاب الوديعة و الهبة) علي تريب كنز العمال : جمعا و تخريجا و دراسة. (أطروحة ماجستير). جامعة أم درمان الإسلامية, السودان
https://search.emarefa.net/detail/BIM-344856
لغة النص
العربية
نوع البيانات
رسائل جامعية
رقم السجل
BIM-344856
قاعدة معامل التأثير والاستشهادات المرجعية العربي "ارسيف Arcif"
أضخم قاعدة بيانات عربية للاستشهادات المرجعية للمجلات العلمية المحكمة الصادرة في العالم العربي
تقوم هذه الخدمة بالتحقق من التشابه أو الانتحال في الأبحاث والمقالات العلمية والأطروحات الجامعية والكتب والأبحاث باللغة العربية، وتحديد درجة التشابه أو أصالة الأعمال البحثية وحماية ملكيتها الفكرية. تعرف اكثر
