Conductivity and thermoelectric properties of nanostructure tin oxide thin films
العناوين الأخرى
خواص التوصيل الكهربائي و الكهروحراري لشرائح أوكسيد القصدير الرقيقة ذات التركيب النانوي
المؤلفون المشاركون
Batal, M. A.
Nashid, Ghassan
Junaid, Faris Hajj
المصدر
Arab Journal of Basic and Applied Sciences
العدد
المجلد 15، العدد 0 (30 إبريل/نيسان 2014)، ص ص. 15-21، 7ص.
الناشر
تاريخ النشر
2014-04-30
دولة النشر
البحرين
عدد الصفحات
7
التخصصات الرئيسية
الملخص AR
رسبت شرائح رقيقة من أوكسيد القصدير المطعم بالحديد و النحاس على مساند من الزجاج و أوكسيد الألمنيوم و ذلك باستخدام طريق تقنية الطلاء بالتغطيس في المحلول الجيلاتي، مسند أوكسيد الألمنيوم حضر بطريقة الترسيب الكهربائي، و العينات المرسبة عوملت حرارياً عند درجة حرارة 600 °C لمدة ساعتين.
بينت قياسات طيف حيود الأشعة السينية بأن العينات المرسبة ذات تركيب متعدد البلورات و بانعكاسات تشير إلى تكون أوكسيد SnO2 ذو طور كاسيترايت.
و باستخدام قياس خواص التيار و الفولتية (I-V) عند درجات الحرارة المختلفة للعينات المحضرة على مسند من الزجاج، فإن كثافة الحالات الإلكترونية عند سطح فيرمي قد تم حسابها.
كما أن الأثر الكهروحراري عند تغير درجة الحرارة للعينات المحضرة تحت ضغط منخفض يقدر ب 1 ملي بار قد تم قياسه و من خلال ذلك أمكن تحديد معامل سيبك، تركيز حاملات التيار، و حركيتها و كذلك معامل النوعية.
لقد تم معرفة بأن معامل سيبك يتحسن عندما تكون الطبقة الساندة للشرائح هي أوكسيد الألمنيوم.
الملخص EN
Tin oxide thin films doped with iron or copper were deposited on glass and porous alumina substrates, using the co-deposition dip coating sol–gel technique.
Alumina substrate was prepared by the anodizing technique.
Samples were sintered for 2 h at temperature 600 C.
The XRD spectrum of deposited samples shows a polycrystalline structure with a clear characteristic peak of SnO2 cassiterite phase.
From (I–V) characteristics measured at different temperatures for samples prepared on glass substrates, the density of states at the Fermi level was calculated.
Thermoelectric effect was measured with a change of temperature for prepared samples under low pressure 1 mbar.
Seebeck coefficient, the carrier concentration, the charge carrier mobility and the figure merit were determined for prepared samples under low pressure 1 mbar.
Seebeck coefficient was improved when films were deposited on porous Alumina substrates.
نمط استشهاد جمعية علماء النفس الأمريكية (APA)
Batal, M. A.& Nashid, Ghassan& Junaid, Faris Hajj. 2014. Conductivity and thermoelectric properties of nanostructure tin oxide thin films. Arab Journal of Basic and Applied Sciences،Vol. 15, no. 0, pp.15-21.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-368702
نمط استشهاد الجمعية الأمريكية للغات الحديثة (MLA)
Batal, M. A.…[et al.]. Conductivity and thermoelectric properties of nanostructure tin oxide thin films. Arab Journal of Basic and Applied Sciences Vol. 15 (Apr. 2014), pp.15-21.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-368702
نمط استشهاد الجمعية الطبية الأمريكية (AMA)
Batal, M. A.& Nashid, Ghassan& Junaid, Faris Hajj. Conductivity and thermoelectric properties of nanostructure tin oxide thin films. Arab Journal of Basic and Applied Sciences. 2014. Vol. 15, no. 0, pp.15-21.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-368702
نوع البيانات
مقالات
لغة النص
الإنجليزية
الملاحظات
Includes bibliographical references : p. 20
رقم السجل
BIM-368702
قاعدة معامل التأثير والاستشهادات المرجعية العربي "ارسيف Arcif"
أضخم قاعدة بيانات عربية للاستشهادات المرجعية للمجلات العلمية المحكمة الصادرة في العالم العربي
تقوم هذه الخدمة بالتحقق من التشابه أو الانتحال في الأبحاث والمقالات العلمية والأطروحات الجامعية والكتب والأبحاث باللغة العربية، وتحديد درجة التشابه أو أصالة الأعمال البحثية وحماية ملكيتها الفكرية. تعرف اكثر