The opto-electronic characteristics of multi-porosity silicon system
العناوين الأخرى
اﻟﻣﻣﯾزات الإﻛﺗروﻧﯾﺔ اﻟﺿوﺋﯾﺔ ﻟلأﺳﻼك اﻟﺳﯾﻠﯾﻛوﻧﯾﺔ اﻟﻛﯾﻣﺔ اﻟﻣﺗﻌددة اﻟﻣﺳﺎﻣﯾﺔ
المؤلفون المشاركون
Ulwan, Ulwan M.
Ahmad, Zahra S.
المصدر
Engineering and Technology Journal
العدد
المجلد 32، العدد 2B (28 فبراير/شباط 2014)، ص ص. 191-197، 7ص.
الناشر
تاريخ النشر
2014-02-28
دولة النشر
العراق
عدد الصفحات
7
التخصصات الرئيسية
الموضوعات
الملخص AR
في هذا البحث تم استخدام التنميش الضوئي الكهروكميائي و بشدات ليزرية متدرجة لإنتاج الأسلاك السيليكونية الكمية ذات المسامية المتعددة على شريحة سيليكون نوع n-type.
تم تصنيع نبيطة نانوية الأحجام ذي التركيب (AL /Q.
W.
Si / AL) لأجل دراسة الخصائص الكهربائية للأسلاك النانوية الكمية.
أظهرت القياسات الكهربائية وجود سلوك تقويمي و بمعامل تقويم عالي و مما فسر ذلك إلى الكثافة العالية للأواصر المتدلية و التي تؤدي إلى إضعاف الخصائص الكهربائية.
الملخص EN
Photo-electrochemical etching with step- gradient illumination intensity was used to generate multi – porosity silicon quantum wire system (Q.W.Si) on n-type silicon wafer.
A nano size photonic device of AL/Q.W.Si /si/AL was fabricated to investigate the electrical properties and the surface morphology with the aid of scanning electron microscopy.
The J-V characteristics of (AL/Q.W.Si /AL) show a rectifying behavior with high ideality factor compared for single layer (Q.W.Si) devices with (AL/Q.W.Si /AL).
The high value of ideality factor was explained based on the high density of the dangling bonds are found on the internal surface of the multi porosity layer, leading to poor electrical properties.
نمط استشهاد جمعية علماء النفس الأمريكية (APA)
Ulwan, Ulwan M.& Ahmad, Zahra S.. 2014. The opto-electronic characteristics of multi-porosity silicon system. Engineering and Technology Journal،Vol. 32, no. 2B, pp.191-197.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-371099
نمط استشهاد الجمعية الأمريكية للغات الحديثة (MLA)
Ulwan, Ulwan M.& Ahmad, Zahra S.. The opto-electronic characteristics of multi-porosity silicon system. Engineering and Technology Journal Vol. 32, no. 2B (2014), pp.191-197.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-371099
نمط استشهاد الجمعية الطبية الأمريكية (AMA)
Ulwan, Ulwan M.& Ahmad, Zahra S.. The opto-electronic characteristics of multi-porosity silicon system. Engineering and Technology Journal. 2014. Vol. 32, no. 2B, pp.191-197.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-371099
نوع البيانات
مقالات
لغة النص
الإنجليزية
الملاحظات
Includes bibliographical references : p. 197
رقم السجل
BIM-371099
قاعدة معامل التأثير والاستشهادات المرجعية العربي "ارسيف Arcif"
أضخم قاعدة بيانات عربية للاستشهادات المرجعية للمجلات العلمية المحكمة الصادرة في العالم العربي
تقوم هذه الخدمة بالتحقق من التشابه أو الانتحال في الأبحاث والمقالات العلمية والأطروحات الجامعية والكتب والأبحاث باللغة العربية، وتحديد درجة التشابه أو أصالة الأعمال البحثية وحماية ملكيتها الفكرية. تعرف اكثر