Kerr effect in Dc sputtered Ni thin films deposited on different substrates
المؤلفون المشاركون
Ghebouli, S.
Bourzami, A.
Kharmouche, A.
Layadi, A.
المصدر
العدد
المجلد 2001، العدد 10 (30 يونيو/حزيران 2001)، ص ص. 147-150، 4ص.
الناشر
تاريخ النشر
2001-06-30
دولة النشر
الجزائر
عدد الصفحات
4
التخصصات الرئيسية
الموضوعات
الملخص EN
-We have studied the effect of the substrate and thickness on the magnetic properties of Ni thin films.
Series of Ni thin films have been prepared by dc diode sputtering on four different substrates, glass, Si(l 11).
Si(100) and mica; the Ni thickness ranges from about 47 nm to 317 nm.
From X-ray diffraction, we observed that Ni grown on glass has no texture.
On the other hand Ni deposited on Si gets the <111> preferred orientation for all samples.
Kerr effect experiments were done using light of wavelength A = 632.8 nm and a magnetic field varying from 0 to 7 kOe.
Longitudinal and polar Kerr effect measurements have been performed on these samples.
All films exhibit an in-plane anisotropy.
Kerr rotation 0K , coercivity Hc and saturation field Hsa, have been deduced from the hysteresis curves.
These parameters have been studied as a Junction of the substrate, the film thickness, the grain size and the texture.
These experimental results will be interpreted and discussed.
Keywords : Magnetism, thin films, Kerr effect, Nickel, Sputtering
نمط استشهاد جمعية علماء النفس الأمريكية (APA)
Ghebouli, S.& Bourzami, A.& Kharmouche, A.& Layadi, A.. 2001. Kerr effect in Dc sputtered Ni thin films deposited on different substrates. Synthèse،Vol. 2001, no. 10, pp.147-150.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-389991
نمط استشهاد الجمعية الأمريكية للغات الحديثة (MLA)
Kharmouche, A.…[et al.]. Kerr effect in Dc sputtered Ni thin films deposited on different substrates. Synthèse No. 10 (Jun. 2001), pp.147-150.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-389991
نمط استشهاد الجمعية الطبية الأمريكية (AMA)
Ghebouli, S.& Bourzami, A.& Kharmouche, A.& Layadi, A.. Kerr effect in Dc sputtered Ni thin films deposited on different substrates. Synthèse. 2001. Vol. 2001, no. 10, pp.147-150.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-389991
نوع البيانات
مقالات
لغة النص
الإنجليزية
الملاحظات
Includes appendices : p. 149-150
رقم السجل
BIM-389991
قاعدة معامل التأثير والاستشهادات المرجعية العربي "ارسيف Arcif"
أضخم قاعدة بيانات عربية للاستشهادات المرجعية للمجلات العلمية المحكمة الصادرة في العالم العربي
تقوم هذه الخدمة بالتحقق من التشابه أو الانتحال في الأبحاث والمقالات العلمية والأطروحات الجامعية والكتب والأبحاث باللغة العربية، وتحديد درجة التشابه أو أصالة الأعمال البحثية وحماية ملكيتها الفكرية. تعرف اكثر