![](/images/graphics-bg.png)
Preparation and properties of niobium thin films
العناوين الأخرى
إعداد و خصائص أغشية رقيقة من مادة النيوبيوم
المؤلفون المشاركون
al-Hinnawi, Adil
al-Ghamidi, Farha M.
Bennett, R. J.
Vradis, A. A.
المصدر
Journal of King Abdulaziz University : Sciences
العدد
المجلد 5، العدد 1 (31 ديسمبر/كانون الأول 1993)، ص ص. 99-106، 8ص.
الناشر
جامعة الملك عبد العزيز مركز النشر العلمي
تاريخ النشر
1993-12-31
دولة النشر
السعودية
عدد الصفحات
8
التخصصات الرئيسية
الموضوعات
الملخص AR
اعدت اغشية النيوييوم الرقيقة (Nb) في صورة اقراص بأقطار 3مم، 12 مم بوساطة التبخير الحراري في وسط فائق التفريغ وذلك باستخدام قاذفة الكترونيات الغرض من هذا التبخير هو الحصول على اغشية رقيقة ذات درجة نقاء من الشوائب عالية جدا ولا تقل عن 99,999% وقد تم فحص هذه الاغشية كهربائيا في ظروف مختلفة وفي درجات حرارة متفاوتة 300،77،42 درجة كلفن ووجد ان الاغشية الرقيقة التي يقل سمكها عن 500 انجشتروم غير مناسبة للتطبيقات العملية و ذلك لردائة توصيلها الكهربي وعدم ثباتها في حالة مستقرة.
أما الاغشية التي يزيد سمكها عن ذلك فقد وجد انها تظل ثابتة الخواص كهربائيا و فيزيائيا و لا تتأثر بالعيوب المحتمل وجودها في سطح القاعدة.
الملخص EN
Niobium thin films have been prepared by thermal evaporation techniques in a UHV system using an electrostatically focussed electron beam evaporator.
The starting material was MARZ grade niobium, with 99.999% purity, and in discs 12 mm diameter by 3 mm.
Deposition was, in general, on to thermally oxidised silicon slices with deposition rates of the order of 2 AS~X.
Film properties were examined as a function of film thickness, deposition rate and substrate temperature during deposition.
The critical temperature (Tc) was assessed by four-probe assessment of the sheet resistivity ratio at room temperature and in liquid nitrogen.
These indicated a critical temperature close to the bulk value of 9.2 K appropriate to niobium and, in all cases, the films were superconducting in liquid helium (4.2 K).
Films of thicknesses < 500 A° revealed Tc values <9.2 K and the film resistivity was significantly greater than should have been expected.
This was thought to be due to incomplete coalescence of the nucleation processes and a contribution to surface scattering in electron transport.
نمط استشهاد جمعية علماء النفس الأمريكية (APA)
al-Ghamidi, Farha M.& al-Hinnawi, Adil& Bennett, R. J.& Vradis, A. A.. 1993. Preparation and properties of niobium thin films. Journal of King Abdulaziz University : Sciences،Vol. 5, no. 1, pp.99-106.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-396964
نمط استشهاد الجمعية الأمريكية للغات الحديثة (MLA)
al-Ghamidi, Farha M.…[et al.]. Preparation and properties of niobium thin films. Journal of King Abdulaziz University : Sciences Vol. 5, no. 1 (1993), pp.99-106.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-396964
نمط استشهاد الجمعية الطبية الأمريكية (AMA)
al-Ghamidi, Farha M.& al-Hinnawi, Adil& Bennett, R. J.& Vradis, A. A.. Preparation and properties of niobium thin films. Journal of King Abdulaziz University : Sciences. 1993. Vol. 5, no. 1, pp.99-106.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-396964
نوع البيانات
مقالات
لغة النص
الإنجليزية
الملاحظات
Includes bibliographical references : p. 105
رقم السجل
BIM-396964
قاعدة معامل التأثير والاستشهادات المرجعية العربي "ارسيف Arcif"
أضخم قاعدة بيانات عربية للاستشهادات المرجعية للمجلات العلمية المحكمة الصادرة في العالم العربي
![](/images/ebook-kashef.png)
تقوم هذه الخدمة بالتحقق من التشابه أو الانتحال في الأبحاث والمقالات العلمية والأطروحات الجامعية والكتب والأبحاث باللغة العربية، وتحديد درجة التشابه أو أصالة الأعمال البحثية وحماية ملكيتها الفكرية. تعرف اكثر
![](/images/kashef-image.png)