![](/images/graphics-bg.png)
Reliable and Damage-Free Estimation of Resistivity of ZnO Thin Films for Photovoltaic Applications Using Photoluminescence Technique
المؤلفون المشاركون
Vijayakumar, K. P.
Poornima, N.
Rajeshmon, V. G.
Kartha, C. Sudha
Vimalkumar, T. V.
المصدر
International Journal of Photoenergy
العدد
المجلد 2013، العدد 2013 (31 ديسمبر/كانون الأول 2013)، ص ص. 1-9، 9ص.
الناشر
Hindawi Publishing Corporation
تاريخ النشر
2013-02-19
دولة النشر
مصر
عدد الصفحات
9
التخصصات الرئيسية
الملخص EN
This work projects photoluminescence (PL) as an alternative technique to estimate the order of resistivity of zinc oxide (ZnO) thin films.
ZnO thin films, deposited using chemical spray pyrolysis (CSP) by varying the deposition parameters like solvent, spray rate, pH of precursor, and so forth, have been used for this study.
Variation in the deposition conditions has tremendous impact on the luminescence properties as well as resistivity.
Two emissions could be recorded for all samples—the near band edge emission (NBE) at 380 nm and the deep level emission (DLE) at ~500 nm which are competing in nature.
It is observed that the ratio of intensities of DLE to NBE (IDLE/INBE) can be reduced by controlling oxygen incorporation in the sample.
I-V measurements indicate that restricting oxygen incorporation reduces resistivity considerably.
Variation of IDLE/INBE and resistivity for samples prepared under different deposition conditions is similar in nature.
IDLE/INBE was always less than resistivity by an order for all samples.
Thus from PL measurements alone, the order of resistivity of the samples can be estimated.
نمط استشهاد جمعية علماء النفس الأمريكية (APA)
Poornima, N.& Vimalkumar, T. V.& Rajeshmon, V. G.& Kartha, C. Sudha& Vijayakumar, K. P.. 2013. Reliable and Damage-Free Estimation of Resistivity of ZnO Thin Films for Photovoltaic Applications Using Photoluminescence Technique. International Journal of Photoenergy،Vol. 2013, no. 2013, pp.1-9.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-446800
نمط استشهاد الجمعية الأمريكية للغات الحديثة (MLA)
Poornima, N.…[et al.]. Reliable and Damage-Free Estimation of Resistivity of ZnO Thin Films for Photovoltaic Applications Using Photoluminescence Technique. International Journal of Photoenergy No. 2013 (2013), pp.1-9.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-446800
نمط استشهاد الجمعية الطبية الأمريكية (AMA)
Poornima, N.& Vimalkumar, T. V.& Rajeshmon, V. G.& Kartha, C. Sudha& Vijayakumar, K. P.. Reliable and Damage-Free Estimation of Resistivity of ZnO Thin Films for Photovoltaic Applications Using Photoluminescence Technique. International Journal of Photoenergy. 2013. Vol. 2013, no. 2013, pp.1-9.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-446800
نوع البيانات
مقالات
لغة النص
الإنجليزية
الملاحظات
Includes bibliographical references
رقم السجل
BIM-446800
قاعدة معامل التأثير والاستشهادات المرجعية العربي "ارسيف Arcif"
أضخم قاعدة بيانات عربية للاستشهادات المرجعية للمجلات العلمية المحكمة الصادرة في العالم العربي
![](/images/ebook-kashef.png)
تقوم هذه الخدمة بالتحقق من التشابه أو الانتحال في الأبحاث والمقالات العلمية والأطروحات الجامعية والكتب والأبحاث باللغة العربية، وتحديد درجة التشابه أو أصالة الأعمال البحثية وحماية ملكيتها الفكرية. تعرف اكثر
![](/images/kashef-image.png)