![](/images/graphics-bg.png)
Substrate Effect on the Optical Reflectance and Transmittance of Thin-Film Structures
المؤلفون المشاركون
Barybin, Anatoly A.
Shapovalov, Victor
المصدر
International Journal of Optics
العدد
المجلد 2010، العدد 2010 (31 ديسمبر/كانون الأول 2010)، ص ص. 1-18، 18ص.
الناشر
Hindawi Publishing Corporation
تاريخ النشر
2010-12-30
دولة النشر
مصر
عدد الصفحات
18
التخصصات الرئيسية
الملخص EN
A rigorous and consistent approach is demonstrated to develop a model of the 4M structure (the four-media structure of a film on a substrate of finite thickness).
The general equations obtained for the reflectance and transmittance spectra of the 4M structure are simplified by employing a procedure of the so-called device averaging to reduce them to a succinct form convenient for processing of experimental spectra for the structures with a thick substrate.
The newly derived equations are applied to two special cases: (i) an arbitrary film on highly absorbing substrates and (ii) a slightly absorbing film on transparent substrates.
The reflectance and transmittance spectra represented in the simplified (with the device averaging) form have a practical application for determining the film thickness and optical constants from experimental spectra by using the known techniques.
نمط استشهاد جمعية علماء النفس الأمريكية (APA)
Barybin, Anatoly A.& Shapovalov, Victor. 2010. Substrate Effect on the Optical Reflectance and Transmittance of Thin-Film Structures. International Journal of Optics،Vol. 2010, no. 2010, pp.1-18.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-448671
نمط استشهاد الجمعية الأمريكية للغات الحديثة (MLA)
Barybin, Anatoly A.& Shapovalov, Victor. Substrate Effect on the Optical Reflectance and Transmittance of Thin-Film Structures. International Journal of Optics No. 2010 (2010), pp.1-18.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-448671
نمط استشهاد الجمعية الطبية الأمريكية (AMA)
Barybin, Anatoly A.& Shapovalov, Victor. Substrate Effect on the Optical Reflectance and Transmittance of Thin-Film Structures. International Journal of Optics. 2010. Vol. 2010, no. 2010, pp.1-18.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-448671
نوع البيانات
مقالات
لغة النص
الإنجليزية
الملاحظات
Includes bibliographical references
رقم السجل
BIM-448671
قاعدة معامل التأثير والاستشهادات المرجعية العربي "ارسيف Arcif"
أضخم قاعدة بيانات عربية للاستشهادات المرجعية للمجلات العلمية المحكمة الصادرة في العالم العربي
![](/images/ebook-kashef.png)
تقوم هذه الخدمة بالتحقق من التشابه أو الانتحال في الأبحاث والمقالات العلمية والأطروحات الجامعية والكتب والأبحاث باللغة العربية، وتحديد درجة التشابه أو أصالة الأعمال البحثية وحماية ملكيتها الفكرية. تعرف اكثر
![](/images/kashef-image.png)