Substrate Effect on the Optical Reflectance and Transmittance of Thin-Film Structures
المؤلفون المشاركون
Barybin, Anatoly A.
Shapovalov, Victor
المصدر
International Journal of Optics
العدد
المجلد 2010، العدد 2010 (31 ديسمبر/كانون الأول 2010)، ص ص. 1-18، 18ص.
الناشر
Hindawi Publishing Corporation
تاريخ النشر
2010-12-30
دولة النشر
مصر
عدد الصفحات
18
التخصصات الرئيسية
الملخص EN
A rigorous and consistent approach is demonstrated to develop a model of the 4M structure (the four-media structure of a film on a substrate of finite thickness).
The general equations obtained for the reflectance and transmittance spectra of the 4M structure are simplified by employing a procedure of the so-called device averaging to reduce them to a succinct form convenient for processing of experimental spectra for the structures with a thick substrate.
The newly derived equations are applied to two special cases: (i) an arbitrary film on highly absorbing substrates and (ii) a slightly absorbing film on transparent substrates.
The reflectance and transmittance spectra represented in the simplified (with the device averaging) form have a practical application for determining the film thickness and optical constants from experimental spectra by using the known techniques.
نمط استشهاد جمعية علماء النفس الأمريكية (APA)
Barybin, Anatoly A.& Shapovalov, Victor. 2010. Substrate Effect on the Optical Reflectance and Transmittance of Thin-Film Structures. International Journal of Optics،Vol. 2010, no. 2010, pp.1-18.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-448671
نمط استشهاد الجمعية الأمريكية للغات الحديثة (MLA)
Barybin, Anatoly A.& Shapovalov, Victor. Substrate Effect on the Optical Reflectance and Transmittance of Thin-Film Structures. International Journal of Optics No. 2010 (2010), pp.1-18.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-448671
نمط استشهاد الجمعية الطبية الأمريكية (AMA)
Barybin, Anatoly A.& Shapovalov, Victor. Substrate Effect on the Optical Reflectance and Transmittance of Thin-Film Structures. International Journal of Optics. 2010. Vol. 2010, no. 2010, pp.1-18.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-448671
نوع البيانات
مقالات
لغة النص
الإنجليزية
الملاحظات
Includes bibliographical references
رقم السجل
BIM-448671
قاعدة معامل التأثير والاستشهادات المرجعية العربي "ارسيف Arcif"
أضخم قاعدة بيانات عربية للاستشهادات المرجعية للمجلات العلمية المحكمة الصادرة في العالم العربي
تقوم هذه الخدمة بالتحقق من التشابه أو الانتحال في الأبحاث والمقالات العلمية والأطروحات الجامعية والكتب والأبحاث باللغة العربية، وتحديد درجة التشابه أو أصالة الأعمال البحثية وحماية ملكيتها الفكرية. تعرف اكثر