Fresnel Lens with Embedded Vortices
المؤلفون المشاركون
Senthilkumaran, Paramasivam
Vyas, Sunil
Ghai, Devinder Pal
Singh, Rakesh Kumar
المصدر
International Journal of Optics
العدد
المجلد 2012، العدد 2012 (31 ديسمبر/كانون الأول 2012)، ص ص. 1-7، 7ص.
الناشر
Hindawi Publishing Corporation
تاريخ النشر
2011-08-16
دولة النشر
مصر
عدد الصفحات
7
التخصصات الرئيسية
الملخص EN
Vortices of different charges are embedded in a wavefront that has quadratic phase variation, and the intensity distribution near the focal plane is studied.
This method may be useful in realizing complicated beam profiles.
We have experimentally demonstrated the generation of vortex arrays having integer as well as fractional topological charges that produce different intensity profiles at the focal plane.
The phase variation realized on a spatial light modulator (SLM) acts as a Fresnel lens with embedded vortices.
نمط استشهاد جمعية علماء النفس الأمريكية (APA)
Vyas, Sunil& Singh, Rakesh Kumar& Ghai, Devinder Pal& Senthilkumaran, Paramasivam. 2011. Fresnel Lens with Embedded Vortices. International Journal of Optics،Vol. 2012, no. 2012, pp.1-7.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-457329
نمط استشهاد الجمعية الأمريكية للغات الحديثة (MLA)
Vyas, Sunil…[et al.]. Fresnel Lens with Embedded Vortices. International Journal of Optics No. 2012 (2012), pp.1-7.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-457329
نمط استشهاد الجمعية الطبية الأمريكية (AMA)
Vyas, Sunil& Singh, Rakesh Kumar& Ghai, Devinder Pal& Senthilkumaran, Paramasivam. Fresnel Lens with Embedded Vortices. International Journal of Optics. 2011. Vol. 2012, no. 2012, pp.1-7.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-457329
نوع البيانات
مقالات
لغة النص
الإنجليزية
الملاحظات
Includes bibliographical references
رقم السجل
BIM-457329
قاعدة معامل التأثير والاستشهادات المرجعية العربي "ارسيف Arcif"
أضخم قاعدة بيانات عربية للاستشهادات المرجعية للمجلات العلمية المحكمة الصادرة في العالم العربي
تقوم هذه الخدمة بالتحقق من التشابه أو الانتحال في الأبحاث والمقالات العلمية والأطروحات الجامعية والكتب والأبحاث باللغة العربية، وتحديد درجة التشابه أو أصالة الأعمال البحثية وحماية ملكيتها الفكرية. تعرف اكثر