![](/images/graphics-bg.png)
Nucleation and Growth of Crystalline Grains in RF-Sputtered TiO2 Films
المؤلفون المشاركون
Bommisetty, V. R.
Dutta, P.
Ahrenkiel, S. P.
Johnson, J. C.
المصدر
Research Letters in Nanotechnology
العدد
المجلد 2009، العدد 2009 (31 ديسمبر/كانون الأول 2009)، ص ص. 1-4، 4ص.
الناشر
Hindawi Publishing Corporation
تاريخ النشر
2009-10-12
دولة النشر
مصر
عدد الصفحات
4
التخصصات الرئيسية
الكيمياء
تكنولوجيا المعلومات وعلم الحاسوب
علوم
الملخص EN
Amorphous TiO2 thin films were radio frequency sputtered onto siliconmonoxide and carbon support films on molybdenum transmission electron microscope (TEM) grids and observed during in situ annealing in a TEM heating stage at 250∘C.
The evolution of crystallization is consistent with a classical model of homogeneous nucleation and isotropic grain growth.
The two-dimensional grain morphology of the TEM foil allowed straightforward recognition of amorphous and crystallized regions of the films, for measurement of crystalline volume fraction and grain number density.
By assuming that the kinetic parameters remain constant beyond the onset of crystallization, the final average grain size was computed, using an analytical extrapolation to the fully crystallized state.
Electron diffraction reveals a predominance of the anatase crystallographic phase.
نمط استشهاد جمعية علماء النفس الأمريكية (APA)
Johnson, J. C.& Ahrenkiel, S. P.& Dutta, P.& Bommisetty, V. R.. 2009. Nucleation and Growth of Crystalline Grains in RF-Sputtered TiO2 Films. Research Letters in Nanotechnology،Vol. 2009, no. 2009, pp.1-4.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-459944
نمط استشهاد الجمعية الأمريكية للغات الحديثة (MLA)
Johnson, J. C.…[et al.]. Nucleation and Growth of Crystalline Grains in RF-Sputtered TiO2 Films. Research Letters in Nanotechnology No. 2009 (2009), pp.1-4.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-459944
نمط استشهاد الجمعية الطبية الأمريكية (AMA)
Johnson, J. C.& Ahrenkiel, S. P.& Dutta, P.& Bommisetty, V. R.. Nucleation and Growth of Crystalline Grains in RF-Sputtered TiO2 Films. Research Letters in Nanotechnology. 2009. Vol. 2009, no. 2009, pp.1-4.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-459944
نوع البيانات
مقالات
لغة النص
الإنجليزية
الملاحظات
Includes bibliographical references
رقم السجل
BIM-459944
قاعدة معامل التأثير والاستشهادات المرجعية العربي "ارسيف Arcif"
أضخم قاعدة بيانات عربية للاستشهادات المرجعية للمجلات العلمية المحكمة الصادرة في العالم العربي
![](/images/ebook-kashef.png)
تقوم هذه الخدمة بالتحقق من التشابه أو الانتحال في الأبحاث والمقالات العلمية والأطروحات الجامعية والكتب والأبحاث باللغة العربية، وتحديد درجة التشابه أو أصالة الأعمال البحثية وحماية ملكيتها الفكرية. تعرف اكثر
![](/images/kashef-image.png)