Aging of Oxygen-Treated Trimethylsilane Plasma-Polymerized Films Using Spectroscopic Ellipsometry

المؤلفون المشاركون

Taya, Sufyan A.
El-Agez, Taher M.
Moffitt, Chris
Wieliczka, David M.

المصدر

Journal of Atomic, Molecular, and Optical Physics

العدد

المجلد 2011، العدد 2011 (31 ديسمبر/كانون الأول 2011)، ص ص. 1-6، 6ص.

الناشر

Hindawi Publishing Corporation

تاريخ النشر

2011-09-29

دولة النشر

مصر

عدد الصفحات

6

التخصصات الرئيسية

الفيزياء

الملخص EN

Oxygen-treated trimethylsilane (TMS) plasma-polymerized films are investigated using rotating polarizer and analyzer ellipsometer.

Aging process and composition of the samples are studied.

Coordinated X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) depth profiling studies on these films is presented for more detailed understanding of the aging process as well as the modeling of these films.

نمط استشهاد جمعية علماء النفس الأمريكية (APA)

El-Agez, Taher M.& Wieliczka, David M.& Moffitt, Chris& Taya, Sufyan A.. 2011. Aging of Oxygen-Treated Trimethylsilane Plasma-Polymerized Films Using Spectroscopic Ellipsometry. Journal of Atomic, Molecular, and Optical Physics،Vol. 2011, no. 2011, pp.1-6.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-461216

نمط استشهاد الجمعية الأمريكية للغات الحديثة (MLA)

El-Agez, Taher M.…[et al.]. Aging of Oxygen-Treated Trimethylsilane Plasma-Polymerized Films Using Spectroscopic Ellipsometry. Journal of Atomic, Molecular, and Optical Physics No. 2011 (2011), pp.1-6.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-461216

نمط استشهاد الجمعية الطبية الأمريكية (AMA)

El-Agez, Taher M.& Wieliczka, David M.& Moffitt, Chris& Taya, Sufyan A.. Aging of Oxygen-Treated Trimethylsilane Plasma-Polymerized Films Using Spectroscopic Ellipsometry. Journal of Atomic, Molecular, and Optical Physics. 2011. Vol. 2011, no. 2011, pp.1-6.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-461216

نوع البيانات

مقالات

لغة النص

الإنجليزية

الملاحظات

Includes bibliographical references

رقم السجل

BIM-461216