Photoreflectance Spectroscopy Characterization of GeSi0.16Ge0.84 Multiple Quantum Wells on Ge Virtual Substrate
المؤلفون المشاركون
Huang, Jeng-Kuang
Huang, Shi-Hao
Yang, Pong-Hong
Wu, Po-Hung
Li, Cheng
Tiong, Kwong-Kau
Hsu, Hung-Pin
Huang, Ying-Sheng
المصدر
Advances in Condensed Matter Physics
العدد
المجلد 2013، العدد 2013 (31 ديسمبر/كانون الأول 2013)، ص ص. 1-6، 6ص.
الناشر
Hindawi Publishing Corporation
تاريخ النشر
2013-11-12
دولة النشر
مصر
عدد الصفحات
6
التخصصات الرئيسية
الملخص EN
We report a detailed characterization of a Ge/Si0.16Ge0.84 multiple quantum well (MQW) structure on Ge-on-Si virtual substrate (VS) grown by ultrahigh vacuum chemical vapor deposition by using temperature-dependent photoreflectance (PR) in the temperature range from 10 to 300 K.
The PR spectra revealed a wide range of optical transitions from the MQW region as well as transitions corresponding to the light-hole and heavy-hole splitting energies of Ge-on-Si VS.
A detailed comparison of PR spectral line shape fits and theoretical calculation led to the identification of various quantum-confined interband transitions.
The temperature-dependent PR spectra of Ge/Si0.16Ge0.84 MQW were analyzed using Varshni and Bose-Einstein expressions.
The parameters that describe the temperature variations of various quantum-confined interband transition energies were evaluated and discussed.
نمط استشهاد جمعية علماء النفس الأمريكية (APA)
Hsu, Hung-Pin& Yang, Pong-Hong& Huang, Jeng-Kuang& Wu, Po-Hung& Huang, Ying-Sheng& Li, Cheng…[et al.]. 2013. Photoreflectance Spectroscopy Characterization of GeSi0.16Ge0.84 Multiple Quantum Wells on Ge Virtual Substrate. Advances in Condensed Matter Physics،Vol. 2013, no. 2013, pp.1-6.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-461490
نمط استشهاد الجمعية الأمريكية للغات الحديثة (MLA)
Hsu, Hung-Pin…[et al.]. Photoreflectance Spectroscopy Characterization of GeSi0.16Ge0.84 Multiple Quantum Wells on Ge Virtual Substrate. Advances in Condensed Matter Physics No. 2013 (2013), pp.1-6.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-461490
نمط استشهاد الجمعية الطبية الأمريكية (AMA)
Hsu, Hung-Pin& Yang, Pong-Hong& Huang, Jeng-Kuang& Wu, Po-Hung& Huang, Ying-Sheng& Li, Cheng…[et al.]. Photoreflectance Spectroscopy Characterization of GeSi0.16Ge0.84 Multiple Quantum Wells on Ge Virtual Substrate. Advances in Condensed Matter Physics. 2013. Vol. 2013, no. 2013, pp.1-6.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-461490
نوع البيانات
مقالات
لغة النص
الإنجليزية
الملاحظات
Includes bibliographical references
رقم السجل
BIM-461490
قاعدة معامل التأثير والاستشهادات المرجعية العربي "ارسيف Arcif"
أضخم قاعدة بيانات عربية للاستشهادات المرجعية للمجلات العلمية المحكمة الصادرة في العالم العربي
تقوم هذه الخدمة بالتحقق من التشابه أو الانتحال في الأبحاث والمقالات العلمية والأطروحات الجامعية والكتب والأبحاث باللغة العربية، وتحديد درجة التشابه أو أصالة الأعمال البحثية وحماية ملكيتها الفكرية. تعرف اكثر