![](/images/graphics-bg.png)
Procedures and Properties for a Direct Nano-Micro Integration of Metal and Semiconductor Nanowires on Si Chips
المؤلفون المشاركون
Adelung, Rainer
Paulowicz, Ingo
Kumar Mishra, Yogendra
Gedamu, Dawit
Jebril, Seid
المصدر
العدد
المجلد 2012، العدد 2012 (31 ديسمبر/كانون الأول 2012)، ص ص. 1-13، 13ص.
الناشر
Hindawi Publishing Corporation
تاريخ النشر
2012-01-24
دولة النشر
مصر
عدد الصفحات
13
التخصصات الرئيسية
العلوم الهندسية و تكنولوجيا المعلومات
الكيمياء
الملخص EN
1-dimensional metal and semiconductor nanostructures exhibit interesting physical properties, but their integration into modern electronic devices is often a very challenging task.
Finding the appropriate supports for nanostructures and nanoscale contacts are highly desired aspects in this regard.
In present work we demonstrate the fabrication of 1D nano- and mesostructures between microstructured contacts formed directly on a silicon chip either by a thin film fracture (TFF) approach or by a modified vapor-liquid-solid (MVLS) approach.
In principle, both approaches offer the possibilities to integrate these nano-meso structures in wafer-level fabrications.
Electrical properties of these nano-micro structures integrated on Si chips and their preliminary applications in the direction of sensors and field effect transistors are also presented.
نمط استشهاد جمعية علماء النفس الأمريكية (APA)
Gedamu, Dawit& Paulowicz, Ingo& Jebril, Seid& Kumar Mishra, Yogendra& Adelung, Rainer. 2012. Procedures and Properties for a Direct Nano-Micro Integration of Metal and Semiconductor Nanowires on Si Chips. Journal of Nanotechnology،Vol. 2012, no. 2012, pp.1-13.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-463669
نمط استشهاد الجمعية الأمريكية للغات الحديثة (MLA)
Gedamu, Dawit…[et al.]. Procedures and Properties for a Direct Nano-Micro Integration of Metal and Semiconductor Nanowires on Si Chips. Journal of Nanotechnology No. 2012 (2012), pp.1-13.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-463669
نمط استشهاد الجمعية الطبية الأمريكية (AMA)
Gedamu, Dawit& Paulowicz, Ingo& Jebril, Seid& Kumar Mishra, Yogendra& Adelung, Rainer. Procedures and Properties for a Direct Nano-Micro Integration of Metal and Semiconductor Nanowires on Si Chips. Journal of Nanotechnology. 2012. Vol. 2012, no. 2012, pp.1-13.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-463669
نوع البيانات
مقالات
لغة النص
الإنجليزية
الملاحظات
Includes bibliographical references
رقم السجل
BIM-463669
قاعدة معامل التأثير والاستشهادات المرجعية العربي "ارسيف Arcif"
أضخم قاعدة بيانات عربية للاستشهادات المرجعية للمجلات العلمية المحكمة الصادرة في العالم العربي
![](/images/ebook-kashef.png)
تقوم هذه الخدمة بالتحقق من التشابه أو الانتحال في الأبحاث والمقالات العلمية والأطروحات الجامعية والكتب والأبحاث باللغة العربية، وتحديد درجة التشابه أو أصالة الأعمال البحثية وحماية ملكيتها الفكرية. تعرف اكثر
![](/images/kashef-image.png)