![](/images/graphics-bg.png)
Modelling of Light Trapping in Acidic-Textured Multicrystalline Silicon Wafers
المؤلفون المشاركون
Li, Yang
Zhao, Yuebin
Li, Zhongtian
Lennon, Alison
المصدر
International Journal of Photoenergy
العدد
المجلد 2012، العدد 2012 (31 ديسمبر/كانون الأول 2012)، ص ص. 1-8، 8ص.
الناشر
Hindawi Publishing Corporation
تاريخ النشر
2012-02-14
دولة النشر
مصر
عدد الصفحات
8
التخصصات الرئيسية
الملخص EN
Acidic texturing has been widely used to reduce the reflection losses for silicon solar cells fabricated on multicrystalline wafers, however, there are few available models which attempt to predict the reduced reflection after texturing based on the morphology of the textured surfaces.
An optical model which simulates the light trapping and scattering effects of acidic-textured surfaces based on the surface morphology is presented.
The developed model was experimentally verified by reflection measurements from multicrystalline silicon wafers textured using different etching conditions.
The relationship between weighted average reflection and surface morphology is demonstrated with some of the trends being explained by simulating reflection in different wavelength regions.
The developed model could be embedded into solar cell simulation tools or adapted to predict optical properties of diverse surface morphologies.
نمط استشهاد جمعية علماء النفس الأمريكية (APA)
Li, Yang& Li, Zhongtian& Zhao, Yuebin& Lennon, Alison. 2012. Modelling of Light Trapping in Acidic-Textured Multicrystalline Silicon Wafers. International Journal of Photoenergy،Vol. 2012, no. 2012, pp.1-8.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-466519
نمط استشهاد الجمعية الأمريكية للغات الحديثة (MLA)
Li, Yang…[et al.]. Modelling of Light Trapping in Acidic-Textured Multicrystalline Silicon Wafers. International Journal of Photoenergy No. 2012 (2012), pp.1-8.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-466519
نمط استشهاد الجمعية الطبية الأمريكية (AMA)
Li, Yang& Li, Zhongtian& Zhao, Yuebin& Lennon, Alison. Modelling of Light Trapping in Acidic-Textured Multicrystalline Silicon Wafers. International Journal of Photoenergy. 2012. Vol. 2012, no. 2012, pp.1-8.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-466519
نوع البيانات
مقالات
لغة النص
الإنجليزية
الملاحظات
Includes bibliographical references
رقم السجل
BIM-466519
قاعدة معامل التأثير والاستشهادات المرجعية العربي "ارسيف Arcif"
أضخم قاعدة بيانات عربية للاستشهادات المرجعية للمجلات العلمية المحكمة الصادرة في العالم العربي
![](/images/ebook-kashef.png)
تقوم هذه الخدمة بالتحقق من التشابه أو الانتحال في الأبحاث والمقالات العلمية والأطروحات الجامعية والكتب والأبحاث باللغة العربية، وتحديد درجة التشابه أو أصالة الأعمال البحثية وحماية ملكيتها الفكرية. تعرف اكثر
![](/images/kashef-image.png)