![](/images/graphics-bg.png)
Electrical and Optical Properties of GexSi1−x : H Thin Films Prepared by Thermal Evaporation Method
المؤلفون المشاركون
al-Douri, A. A. J.
Makadsi, M. N.
Alias, Maysoon F. A.
Alnajjar, Abdalla A.
المصدر
Advances in Condensed Matter Physics
العدد
المجلد 2010، العدد 2010 (31 ديسمبر/كانون الأول 2010)، ص ص. 1-8، 8ص.
الناشر
Hindawi Publishing Corporation
تاريخ النشر
2010-04-27
دولة النشر
مصر
عدد الصفحات
8
التخصصات الرئيسية
الملخص EN
Thin a-GexSi1−x:H films were grown successfully by fabrication of designated ingot followed by evaporation onto glass slides.
A range of growth conditions, Ge contents, dopant concentration (Al and As), and substrate temperature, were employed.
Stoichiometry of the thin films composition was confirmed using standard surface techniques.
The structure of all films was amorphous.
Film composition and deposition parameters were investigated for their bearing on film electrical and optical properties.
More than one transport mechanism is indicated.
It was observed that increasing substrate temperature, Ge contents, and dopant concentration lead to a decrease in the optical energy gap of those films.
The role of the deposition conditions on values of the optical constants was determined.
Accordingly, models of the density of states for the Ge0.5Si0.5:H thin films as pure, doped with 3.5% of Al (p-type) and that doped with 3.5% As (n-type), were proposed.
نمط استشهاد جمعية علماء النفس الأمريكية (APA)
al-Douri, A. A. J.& Alias, Maysoon F. A.& Alnajjar, Abdalla A.& Makadsi, M. N.. 2010. Electrical and Optical Properties of GexSi1−x : H Thin Films Prepared by Thermal Evaporation Method. Advances in Condensed Matter Physics،Vol. 2010, no. 2010, pp.1-8.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-471510
نمط استشهاد الجمعية الأمريكية للغات الحديثة (MLA)
al-Douri, A. A. J.…[et al.]. Electrical and Optical Properties of GexSi1−x : H Thin Films Prepared by Thermal Evaporation Method. Advances in Condensed Matter Physics No. 2010 (2010), pp.1-8.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-471510
نمط استشهاد الجمعية الطبية الأمريكية (AMA)
al-Douri, A. A. J.& Alias, Maysoon F. A.& Alnajjar, Abdalla A.& Makadsi, M. N.. Electrical and Optical Properties of GexSi1−x : H Thin Films Prepared by Thermal Evaporation Method. Advances in Condensed Matter Physics. 2010. Vol. 2010, no. 2010, pp.1-8.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-471510
نوع البيانات
مقالات
لغة النص
الإنجليزية
الملاحظات
Includes bibliographical references
رقم السجل
BIM-471510
قاعدة معامل التأثير والاستشهادات المرجعية العربي "ارسيف Arcif"
أضخم قاعدة بيانات عربية للاستشهادات المرجعية للمجلات العلمية المحكمة الصادرة في العالم العربي
![](/images/ebook-kashef.png)
تقوم هذه الخدمة بالتحقق من التشابه أو الانتحال في الأبحاث والمقالات العلمية والأطروحات الجامعية والكتب والأبحاث باللغة العربية، وتحديد درجة التشابه أو أصالة الأعمال البحثية وحماية ملكيتها الفكرية. تعرف اكثر
![](/images/kashef-image.png)