T-Stability of the Heun Method and Balanced Method for Solving Stochastic Differential Delay Equations
المؤلفون المشاركون
المصدر
Journal of Applied Mathematics
العدد
المجلد 2014، العدد 2014 (31 ديسمبر/كانون الأول 2014)، ص ص. 1-10، 10ص.
الناشر
Hindawi Publishing Corporation
تاريخ النشر
2014-06-11
دولة النشر
مصر
عدد الصفحات
10
التخصصات الرئيسية
الملخص EN
This paper studies the T-stability of the Heun method and balanced method for solving stochastic differential delay equations (SDDEs).
Two T-stable conditions of the Heun method are obtained for two kinds of linear SDDEs.
Moreover, two conditions under which the balanced method is T-stable are obtained for two kinds of linear SDDEs.
Some numerical examples verify the theoretical results proposed.
نمط استشهاد جمعية علماء النفس الأمريكية (APA)
Zhu, Xiaolin& Peng, Hu. 2014. T-Stability of the Heun Method and Balanced Method for Solving Stochastic Differential Delay Equations. Journal of Applied Mathematics،Vol. 2014, no. 2014, pp.1-10.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-480323
نمط استشهاد الجمعية الأمريكية للغات الحديثة (MLA)
Zhu, Xiaolin& Peng, Hu. T-Stability of the Heun Method and Balanced Method for Solving Stochastic Differential Delay Equations. Journal of Applied Mathematics No. 2014 (2014), pp.1-10.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-480323
نمط استشهاد الجمعية الطبية الأمريكية (AMA)
Zhu, Xiaolin& Peng, Hu. T-Stability of the Heun Method and Balanced Method for Solving Stochastic Differential Delay Equations. Journal of Applied Mathematics. 2014. Vol. 2014, no. 2014, pp.1-10.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-480323
نوع البيانات
مقالات
لغة النص
الإنجليزية
الملاحظات
Includes bibliographical references
رقم السجل
BIM-480323
قاعدة معامل التأثير والاستشهادات المرجعية العربي "ارسيف Arcif"
أضخم قاعدة بيانات عربية للاستشهادات المرجعية للمجلات العلمية المحكمة الصادرة في العالم العربي
تقوم هذه الخدمة بالتحقق من التشابه أو الانتحال في الأبحاث والمقالات العلمية والأطروحات الجامعية والكتب والأبحاث باللغة العربية، وتحديد درجة التشابه أو أصالة الأعمال البحثية وحماية ملكيتها الفكرية. تعرف اكثر