Second-Order Nonlinear Optical Microscopy of a H–Si(111)1 × 1 Surface in Ultra-High Vacuum Conditions
المؤلف
المصدر
Physics Research International
العدد
المجلد 2012، العدد 2012 (31 ديسمبر/كانون الأول 2012)، ص ص. 1-14، 14ص.
الناشر
Hindawi Publishing Corporation
تاريخ النشر
2012-04-11
دولة النشر
مصر
عدد الصفحات
14
التخصصات الرئيسية
الملخص EN
This paper reviews the use of optical sum frequency generation (SFG) and second harmonic generation (SHG) microscopy under ultra-high vacuum (UHV) conditions to observe the dynamics of a hydrogen terminated Si(111)1 × 1 surface.
First, we took SFG and SHG microscopic images of the surface after IR light pulse irradiation and found that the SHG and nonresonant SFG signals were enhanced, probably due to the formation of dangling bonds after hydrogen desorption.
Second, we observed time-resolved SFG intensity images of a H–Si(111)1 × 1 surface.
After visible pump light irradiation, the nonresonant SFG signal increased at probe delay time 0 ps and then decreased over a life time of 565 ps.
The resonant SFG signal reduced dramatically at 0 ps and then recovered with an anisotropic line shape over a life time of 305 ps.
The areas of modulated SFG signals at delay time 277 ps were expanded with an anisotropic aspect.
Finally, we observed SFG intensity images of hydrogen deficiency on a Si(111)1 × 1 surface as a function of temperature.
These images of the H–Si(111) surface, taken with a spatial resolution of 5 μm at several temperatures from 572 to 744 K, showed that the hydrogen desorbs homogeneously.
نمط استشهاد جمعية علماء النفس الأمريكية (APA)
Miyauchi, Yoshihiro. 2012. Second-Order Nonlinear Optical Microscopy of a H–Si(111)1 × 1 Surface in Ultra-High Vacuum Conditions. Physics Research International،Vol. 2012, no. 2012, pp.1-14.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-482131
نمط استشهاد الجمعية الأمريكية للغات الحديثة (MLA)
Miyauchi, Yoshihiro. Second-Order Nonlinear Optical Microscopy of a H–Si(111)1 × 1 Surface in Ultra-High Vacuum Conditions. Physics Research International No. 2012 (2012), pp.1-14.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-482131
نمط استشهاد الجمعية الطبية الأمريكية (AMA)
Miyauchi, Yoshihiro. Second-Order Nonlinear Optical Microscopy of a H–Si(111)1 × 1 Surface in Ultra-High Vacuum Conditions. Physics Research International. 2012. Vol. 2012, no. 2012, pp.1-14.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-482131
نوع البيانات
مقالات
لغة النص
الإنجليزية
الملاحظات
Includes bibliographical references
رقم السجل
BIM-482131
قاعدة معامل التأثير والاستشهادات المرجعية العربي "ارسيف Arcif"
أضخم قاعدة بيانات عربية للاستشهادات المرجعية للمجلات العلمية المحكمة الصادرة في العالم العربي
تقوم هذه الخدمة بالتحقق من التشابه أو الانتحال في الأبحاث والمقالات العلمية والأطروحات الجامعية والكتب والأبحاث باللغة العربية، وتحديد درجة التشابه أو أصالة الأعمال البحثية وحماية ملكيتها الفكرية. تعرف اكثر