Evaluation of the Thickness in Nanolayers Using the Transfer Matrix Method for Modeling the Spectral Reflectivity
المؤلفون المشاركون
Fuentes, Juan
Hernández, Luis C.
Hernández, Luís
González-Ramírez, Juan E.
المصدر
العدد
المجلد 2009، العدد 2009 (31 ديسمبر/كانون الأول 2009)، ص ص. 1-4، 4ص.
الناشر
Hindawi Publishing Corporation
تاريخ النشر
2009-04-23
دولة النشر
مصر
عدد الصفحات
4
التخصصات الرئيسية
الملخص EN
The reflectivity spectra have been traditionally used to determine the thicknesses in semiconductor films.
However, thicknesses of nanofilms are not easy to evaluate because the interference fringes are not visible in the transparent region.
In this paper, we present a computed method based on the transfer matrix (TM) which is used to match the calculated and experimental room temperature reflectivity spectra of the ZnTe/GaAs films and to determine its thickness film values afterwards.
The TM method needs only to know refraction indices and absorption coefficients as a function of wavelength for the film and the substrate.
The thickness nanofilms evaluated by our method are in agreement with the values measured by ellipsometry, Rutherford backscattering spectroscopy and transmission electron microscopy techniques.
The present procedure extends the application of the standard spectral reflectance technique to determine semiconductor nanolayer thicknesses.
نمط استشهاد جمعية علماء النفس الأمريكية (APA)
González-Ramírez, Juan E.& Fuentes, Juan& Hernández, Luis C.& Hernández, Luís. 2009. Evaluation of the Thickness in Nanolayers Using the Transfer Matrix Method for Modeling the Spectral Reflectivity. Research Letters in Physics،Vol. 2009, no. 2009, pp.1-4.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-483601
نمط استشهاد الجمعية الأمريكية للغات الحديثة (MLA)
González-Ramírez, Juan E.…[et al.]. Evaluation of the Thickness in Nanolayers Using the Transfer Matrix Method for Modeling the Spectral Reflectivity. Research Letters in Physics No. 2009 (2009), pp.1-4.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-483601
نمط استشهاد الجمعية الطبية الأمريكية (AMA)
González-Ramírez, Juan E.& Fuentes, Juan& Hernández, Luis C.& Hernández, Luís. Evaluation of the Thickness in Nanolayers Using the Transfer Matrix Method for Modeling the Spectral Reflectivity. Research Letters in Physics. 2009. Vol. 2009, no. 2009, pp.1-4.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-483601
نوع البيانات
مقالات
لغة النص
الإنجليزية
الملاحظات
Includes bibliographical references
رقم السجل
BIM-483601
قاعدة معامل التأثير والاستشهادات المرجعية العربي "ارسيف Arcif"
أضخم قاعدة بيانات عربية للاستشهادات المرجعية للمجلات العلمية المحكمة الصادرة في العالم العربي
تقوم هذه الخدمة بالتحقق من التشابه أو الانتحال في الأبحاث والمقالات العلمية والأطروحات الجامعية والكتب والأبحاث باللغة العربية، وتحديد درجة التشابه أو أصالة الأعمال البحثية وحماية ملكيتها الفكرية. تعرف اكثر