Choice of a High-Level Fault Model for the Optimization of Validation Test Set Reused for Manufacturing Test
المؤلفون المشاركون
Tedjini, Smail
Joannon, Yves
Carbonero, Jean-Louis
Robach, Chantal
Beroulle, Vincent
المصدر
العدد
المجلد 2008، العدد 2008 (31 ديسمبر/كانون الأول 2008)، ص ص. 1-9، 9ص.
الناشر
Hindawi Publishing Corporation
تاريخ النشر
2008-06-25
دولة النشر
مصر
عدد الصفحات
9
التخصصات الرئيسية
العلوم الهندسية و تكنولوجيا المعلومات
الملخص EN
With the growing complexity of wireless systems on chip integrating hundreds-of-millions of transistors, electronic design methods need to be upgraded to reduce time-to-market.
In this paper, the test benches defined for design validation or characterization of AMS & RF SoCs are optimized and reused for production testing.
Although the original validation test set allows the verification of both design functionalities and performances, this test set is not well adapted to manufacturing test due to its high execution time and high test equipment costs requirement.
The optimization of this validation test set is based on the evaluation of each test vector.
This evaluation relies on high-level fault modeling and fault simulation.
Hence, a fault model based on the variations of the parameters of high abstraction level descriptions and its related qualification metric are presented.
The choice of functional or behavioral abstraction levels is discussed by comparing their impact on structural fault coverage.
Experiments are performed on the receiver part of a WCDMA transceiver.
Results show that for this SoC, using behavioral abstraction level is justified for the generation of manufacturing test benches.
نمط استشهاد جمعية علماء النفس الأمريكية (APA)
Joannon, Yves& Beroulle, Vincent& Robach, Chantal& Tedjini, Smail& Carbonero, Jean-Louis. 2008. Choice of a High-Level Fault Model for the Optimization of Validation Test Set Reused for Manufacturing Test. VLSI Design،Vol. 2008, no. 2008, pp.1-9.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-483777
نمط استشهاد الجمعية الأمريكية للغات الحديثة (MLA)
Joannon, Yves…[et al.]. Choice of a High-Level Fault Model for the Optimization of Validation Test Set Reused for Manufacturing Test. VLSI Design No. 2008 (2008), pp.1-9.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-483777
نمط استشهاد الجمعية الطبية الأمريكية (AMA)
Joannon, Yves& Beroulle, Vincent& Robach, Chantal& Tedjini, Smail& Carbonero, Jean-Louis. Choice of a High-Level Fault Model for the Optimization of Validation Test Set Reused for Manufacturing Test. VLSI Design. 2008. Vol. 2008, no. 2008, pp.1-9.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-483777
نوع البيانات
مقالات
لغة النص
الإنجليزية
الملاحظات
Includes bibliographical references
رقم السجل
BIM-483777
قاعدة معامل التأثير والاستشهادات المرجعية العربي "ارسيف Arcif"
أضخم قاعدة بيانات عربية للاستشهادات المرجعية للمجلات العلمية المحكمة الصادرة في العالم العربي
تقوم هذه الخدمة بالتحقق من التشابه أو الانتحال في الأبحاث والمقالات العلمية والأطروحات الجامعية والكتب والأبحاث باللغة العربية، وتحديد درجة التشابه أو أصالة الأعمال البحثية وحماية ملكيتها الفكرية. تعرف اكثر