![](/images/graphics-bg.png)
Run-Length-Based Test Data Compression Techniques : How Far from Entropy and Power Bounds?—A Survey
المؤلفون المشاركون
Dasgupta, Kankar S.
Mehta, Usha S.
Devashrayee, Niranjan M.
المصدر
العدد
المجلد 2010، العدد 2010 (31 ديسمبر/كانون الأول 2010)، ص ص. 1-9، 9ص.
الناشر
Hindawi Publishing Corporation
تاريخ النشر
2010-03-23
دولة النشر
مصر
عدد الصفحات
9
التخصصات الرئيسية
العلوم الهندسية و تكنولوجيا المعلومات
الملخص EN
The run length based coding schemes have been very effective for the test data compression in case of current generation SoCs with a large number of IP cores.
The first part of paper presents a survey of the run length based codes.
The data compression of any partially specified test data depends upon how the unspecified bits are filled with 1s and 0s.
In the second part of the paper, the five different approaches for “don't care” bit filling based on nature of runs are proposed to predict the maximum compression based on entropy.
Here the various run length based schemes are compared with maximum data compression limit based on entropy bounds.
The actual compressions claimed by the authors are also compared.
For various ISCAS circuits, it has been shown that when the X filling is done considering runs of zeros followed by one as well as runs of ones followed by zero (i.e., Extended FDR), it provides the maximum data compression.
In third part, it has been shown that the average test power and peak power is minimum when the don't care bits are filled to make the long runs of 0s as well as 1s.
نمط استشهاد جمعية علماء النفس الأمريكية (APA)
Mehta, Usha S.& Dasgupta, Kankar S.& Devashrayee, Niranjan M.. 2010. Run-Length-Based Test Data Compression Techniques : How Far from Entropy and Power Bounds?—A Survey. VLSI Design،Vol. 2010, no. 2010, pp.1-9.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-489114
نمط استشهاد الجمعية الأمريكية للغات الحديثة (MLA)
Mehta, Usha S.…[et al.]. Run-Length-Based Test Data Compression Techniques : How Far from Entropy and Power Bounds?—A Survey. VLSI Design No. 2010 (2010), pp.1-9.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-489114
نمط استشهاد الجمعية الطبية الأمريكية (AMA)
Mehta, Usha S.& Dasgupta, Kankar S.& Devashrayee, Niranjan M.. Run-Length-Based Test Data Compression Techniques : How Far from Entropy and Power Bounds?—A Survey. VLSI Design. 2010. Vol. 2010, no. 2010, pp.1-9.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-489114
نوع البيانات
مقالات
لغة النص
الإنجليزية
الملاحظات
Includes bibliographical references
رقم السجل
BIM-489114
قاعدة معامل التأثير والاستشهادات المرجعية العربي "ارسيف Arcif"
أضخم قاعدة بيانات عربية للاستشهادات المرجعية للمجلات العلمية المحكمة الصادرة في العالم العربي
![](/images/ebook-kashef.png)
تقوم هذه الخدمة بالتحقق من التشابه أو الانتحال في الأبحاث والمقالات العلمية والأطروحات الجامعية والكتب والأبحاث باللغة العربية، وتحديد درجة التشابه أو أصالة الأعمال البحثية وحماية ملكيتها الفكرية. تعرف اكثر
![](/images/kashef-image.png)