A Low-Cost BIST Scheme for Test Vector Embedding in Accumulator-Generated Sequences
المؤلف
المصدر
العدد
المجلد 2008، العدد 2008 (31 ديسمبر/كانون الأول 2008)، ص ص. 1-8، 8ص.
الناشر
Hindawi Publishing Corporation
تاريخ النشر
2008-03-17
دولة النشر
مصر
عدد الصفحات
8
التخصصات الرئيسية
العلوم الهندسية و تكنولوجيا المعلومات
الملخص EN
Test set embedding built-in self test (BIST) schemes are a class of pseudorandom BIST techniques where the test set is embedded into the sequence generated by the BIST pattern generator, and they displace common pseudorandom schemes in cases where reverse-order simulation cannot be applied.
Single-seed embedding schemes embed the test set into a single sequence and demand extremely small hardware overhead since no additional control or memory to reconfigure the test pattern generator is required.
The challenge in this class of schemes is to choose the best pattern generator among various candidate configurations.
This, in turn, calls for a need to evaluate the location of each test pattern in the sequence as fast as possible, in order to try as many candidate configurations as possible for the test pattern generator.
This problem is known as the test vector-embedding problem.
In this paper we present a novel solution to the test vector-embedding problem for sequences generated by accumulators.
The time overhead of the solution is of the order O(1).
The applicability of the presented method for embedding test sets for the testing of real-world circuits is investigated through experimental results in some well-known benchmarks; comparisons with previously proposed schemes indicate that comparable test lengths are achieved, while the time required for the calculations is accelerated by more than 30 times.
نمط استشهاد جمعية علماء النفس الأمريكية (APA)
Voyiatzis, Ioannis. 2008. A Low-Cost BIST Scheme for Test Vector Embedding in Accumulator-Generated Sequences. VLSI Design،Vol. 2008, no. 2008, pp.1-8.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-489932
نمط استشهاد الجمعية الأمريكية للغات الحديثة (MLA)
Voyiatzis, Ioannis. A Low-Cost BIST Scheme for Test Vector Embedding in Accumulator-Generated Sequences. VLSI Design No. 2008 (2008), pp.1-8.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-489932
نمط استشهاد الجمعية الطبية الأمريكية (AMA)
Voyiatzis, Ioannis. A Low-Cost BIST Scheme for Test Vector Embedding in Accumulator-Generated Sequences. VLSI Design. 2008. Vol. 2008, no. 2008, pp.1-8.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-489932
نوع البيانات
مقالات
لغة النص
الإنجليزية
الملاحظات
Includes bibliographical references
رقم السجل
BIM-489932
قاعدة معامل التأثير والاستشهادات المرجعية العربي "ارسيف Arcif"
أضخم قاعدة بيانات عربية للاستشهادات المرجعية للمجلات العلمية المحكمة الصادرة في العالم العربي
تقوم هذه الخدمة بالتحقق من التشابه أو الانتحال في الأبحاث والمقالات العلمية والأطروحات الجامعية والكتب والأبحاث باللغة العربية، وتحديد درجة التشابه أو أصالة الأعمال البحثية وحماية ملكيتها الفكرية. تعرف اكثر