![](/images/graphics-bg.png)
ZnO : Al Grown by Sputtering from Two Different Target Sources: A Comparison Study
المؤلف
المصدر
Advances in Condensed Matter Physics
العدد
المجلد 2012، العدد 2012 (31 ديسمبر/كانون الأول 2012)، ص ص. 1-8، 8ص.
الناشر
Hindawi Publishing Corporation
تاريخ النشر
2012-05-08
دولة النشر
مصر
عدد الصفحات
8
التخصصات الرئيسية
الملخص EN
Al-doped ZnO thin films were deposited from two different targets.
Ceramic targets were used in RF magnetron sputtering, whereas pulsed magnetron sputtering was used to grow films from powder targets.
ZnO:Al films with different thicknesses were sputtered directly on soda-lime glass substrates.
The film thickness was in the 0.04–2.0 μm range.
The microstructure, such as the grain size and the texture, of the two differently grown ZnO:Al transparent conductive oxide films of different thickness, was studied using X-ray diffraction θ/2θ scans.
The optical properties, such as the transmittance and reflectance, were measured using a UV-Vis-NIR spectrometer.
Further, the sheet resistance, resistivity, carrier concentration, and Hall mobility of these ZnO:Al thin films were measured as a function of film thickness.
These results obtained from the two different deposition techniques were compared and contrasted.
نمط استشهاد جمعية علماء النفس الأمريكية (APA)
Alnajjar, Abdalla A.. 2012. ZnO : Al Grown by Sputtering from Two Different Target Sources: A Comparison Study. Advances in Condensed Matter Physics،Vol. 2012, no. 2012, pp.1-8.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-490134
نمط استشهاد الجمعية الأمريكية للغات الحديثة (MLA)
Alnajjar, Abdalla A.. ZnO : Al Grown by Sputtering from Two Different Target Sources: A Comparison Study. Advances in Condensed Matter Physics No. 2012 (2012), pp.1-8.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-490134
نمط استشهاد الجمعية الطبية الأمريكية (AMA)
Alnajjar, Abdalla A.. ZnO : Al Grown by Sputtering from Two Different Target Sources: A Comparison Study. Advances in Condensed Matter Physics. 2012. Vol. 2012, no. 2012, pp.1-8.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-490134
نوع البيانات
مقالات
لغة النص
الإنجليزية
الملاحظات
Includes bibliographical references
رقم السجل
BIM-490134
قاعدة معامل التأثير والاستشهادات المرجعية العربي "ارسيف Arcif"
أضخم قاعدة بيانات عربية للاستشهادات المرجعية للمجلات العلمية المحكمة الصادرة في العالم العربي
![](/images/ebook-kashef.png)
تقوم هذه الخدمة بالتحقق من التشابه أو الانتحال في الأبحاث والمقالات العلمية والأطروحات الجامعية والكتب والأبحاث باللغة العربية، وتحديد درجة التشابه أو أصالة الأعمال البحثية وحماية ملكيتها الفكرية. تعرف اكثر
![](/images/kashef-image.png)